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深圳市天瑞儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第7年

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當(dāng)前位置:深圳市天瑞儀器有限公司>>鍍層測(cè)厚儀>>X熒光鍍層測(cè)厚儀>> Thick800A緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠價(jià)格

緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠價(jià)格

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)Thick800A

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地深圳市

更新時(shí)間:2025-01-02 08:31:31瀏覽次數(shù):1056次

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價(jià)格區(qū)間 10萬-20萬 應(yīng)用領(lǐng)域 石油,建材/家具,電子/電池
鍍層測(cè)厚儀是對(duì)材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的rel=“nofollow“ 儀器,測(cè)量的對(duì)象包括涂層,、鍍層,、敷層,、貼層,、化學(xué)生成膜等。測(cè)試方法主要分為:電渦流法,、磁感應(yīng)法,、金相法、庫侖法以及X射線熒光法,。今天,,我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系。緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠價(jià)格
  • 測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),,探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),,實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
  • 探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
  • 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),,檢測(cè)熒光強(qiáng)度來換算成金屬表層的厚度的儀器
  • 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
  • 溫度要求:15℃至30℃。
  • 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
  • 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm

緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠價(jià)格

鍍層測(cè)厚儀是對(duì)材料表面保護(hù),、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的rel="nofollow" 儀器,,測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層,、敷層,、貼層、化學(xué)生成膜等,。測(cè)試方法主要分為:電渦流法,、磁感應(yīng)法、金相法,、庫侖法以及X射線熒光法,。今天,我們主要為您講解后三種方法的區(qū)別以及關(guān)系,。

 1,、測(cè)量原理比較

測(cè)試方法 測(cè)試原理 
金相法 利用金相顯微鏡放大橫截面的原理,對(duì)鍍層厚度放大,,進(jìn)行觀測(cè)及測(cè)量,。 
庫侖法 利用適當(dāng)?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層,根據(jù)所耗的電量計(jì)算出覆蓋層的厚度,。 
X射線光譜法 利用X射線與基體和覆蓋層的相互作用產(chǎn)生的離散波長和能量的二次輻射強(qiáng)度與覆蓋層單位面積質(zhì)量之間存在一定的關(guān)系,。根據(jù)校正標(biāo)準(zhǔn)塊提供的單位面積質(zhì)量的覆蓋層校正這一關(guān)系,給出覆蓋層線性厚度。 

 2,、標(biāo)準(zhǔn)、要求,、儀器的選型

測(cè)試方法 參考標(biāo)準(zhǔn) 樣品要求 儀器 
金相法 ASTM B487,;GB/T 6462  鍍層厚度不小于1um 切割機(jī)、真空浸漬儀,、研磨機(jī),、金相顯微鏡 
庫侖法 ASTM B764;GB/T4955  平面不小于5mm2電解測(cè)厚儀 
X射線光譜法 ASTM B568,; GB/T16921 測(cè)試面積大于0.05×0.25mm X-ray鍍層測(cè)厚儀

 3,、測(cè)試因素比較

 金相法 庫侖法 X射線光譜法 
測(cè)試范圍 >1um 0~35um 重金屬0~10um 、其它0~35um 
測(cè)試精度 高 稍差 高 
制樣 制樣復(fù)雜 配置不同電解液 簡(jiǎn)單 
工件損傷 有損 有損 無損 
操作方法 操作復(fù)雜 復(fù)雜 簡(jiǎn)單 
測(cè)試效率 非常低 低 高 
層數(shù) 不限 單層和Cr/Ni/Cu復(fù)合鍍層 zui多5層 
鍍層預(yù)知 不需要 需要 需要 
合金鍍層厚度 可測(cè) 不可測(cè) 可測(cè) 
合金成分 EDS聯(lián)用 不可測(cè) 可測(cè) 
溶液成分測(cè)試 不可測(cè) 不可測(cè) 可測(cè) 
人為因素 影響大 影響大 影響小 
價(jià)格 較高 低 高 

  

 

4.應(yīng)用X熒光法的優(yōu)勢(shì)

 

1.緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠價(jià)格樣品處理方法簡(jiǎn)單或無前處理2.可快速對(duì)樣品做定性分析3.對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析4.譜線峰背比高,分析靈敏度高5.不破壞試樣,無損分析6.試樣形態(tài)多樣化(固體,、液體,、粉末等)7.設(shè)備可靠、維修,、維護(hù)簡(jiǎn)單8.快速:一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1~3分鐘,,樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。9.無損:物理測(cè)量,,不改變樣品性質(zhì)10.準(zhǔn)確:對(duì)樣品可以精確分析11.直觀:直觀的分析譜圖,,元素分布一幕了然,定性分析速度快12.環(huán)保:檢測(cè)過程中不產(chǎn)生任何廢氣,、廢水 

5.緊固件螺絲鍍層測(cè)厚儀優(yōu)惠Thick800A

儀器介紹Thick800A是天瑞儀器銷量的鍍層測(cè)厚儀,;儀器采用上照式結(jié)構(gòu),測(cè)試精確,,軟件界面簡(jiǎn)潔,,測(cè)試樣品用時(shí)40S,售后服務(wù)可靠及時(shí),。

儀器性能特點(diǎn)1.滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求2.φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求,,可以對(duì)同一鍍件不同部位測(cè)試厚度3.高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm4.采用高度定位激光,,可自動(dòng)定位測(cè)試高度5.定位激光確定定位光斑,,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊6.鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)7.高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)8.良好的射線屏蔽作用9.測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)

儀器參數(shù)規(guī)格1   分析元素范圍:S-U2   同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層3   分析厚度檢出限達(dá)0.005μm4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.01μm5   定位精度:0.1mm6   測(cè)量時(shí)間:30s-300s7   計(jì)數(shù)率:1300-8000cps8   Z軸升降范圍:0-140mm9   X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程:50mm(W)×50mm(D) 

儀器軟件優(yōu)勢(shì):                                     儀器采用天瑞軟件研發(fā)團(tuán)隊(duì)研發(fā)的能量色散X熒光FpThick軟件,,良好的FP法和EC法等多種方法嵌入的人性化應(yīng)用軟件,,具有高靈敏度、測(cè)試時(shí)間短,、一鍵智能化操作,。譜圖區(qū)域采用動(dòng)態(tài)模式,測(cè)試時(shí)元素觀察更直觀。軟件具有多種測(cè)試模式設(shè)置和無限數(shù)目模式自由添加,,內(nèi)置強(qiáng)度校正方法,,可校正幾何狀態(tài)不同和結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品造成的偏差。

測(cè)試實(shí)例鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件,,其鎳鍍層在保護(hù)銅基體免受氧化同時(shí)還能起到美觀的作用,。這里以測(cè)試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測(cè)試效果。
以下使用Thick800A儀器對(duì)銅鍍鎳樣品實(shí)際測(cè)試Ni層厚度,,七次的結(jié)果其標(biāo)準(zhǔn)偏差和相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差,。且可在樣品上進(jìn)行精確定位測(cè)試,其測(cè)試位置如圖,。
        
 

樣 品 名成分Ni(%)鍍層Ni(um)
吊扣10019.321
吊扣2#10019.665
吊扣3#10018.846
吊扣4#10019.302
吊扣5#10018.971
吊扣6#10019.031
吊扣7#10019.146
平均值10019.18314
標(biāo)準(zhǔn)偏差00.273409
相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差01.425257

銅鍍鎳件測(cè)試值結(jié)論

實(shí)驗(yàn)表明,,使用Thick800A 對(duì)鍍件膜厚測(cè)試,結(jié)果準(zhǔn)確度高,,速度快(幾十秒),,其測(cè)試效果*可以和顯微鏡測(cè)試法媲美。

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