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Thick8000

行業(yè)內其他儀器

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平均值

0.0425

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標準偏差

0.0007

0.0019

相對標準偏差

1.70%

4.03%

極差

0.0024

0.0055

成分Ni(%)

Think600

1,、儀器概述

Think600使用高效而實用的正比計數盒和電制冷探測器,，以實在的價格定位滿足鍍層厚度測量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形,、結構及色彩設計,，使儀器操作更人性化、更方便,。

2,、性能優(yōu)勢

長效穩(wěn)定X銅光管
半導體硅片電制冷系統(tǒng)，摒棄液氮制冷
采用天瑞儀器產品—信噪比增強器（SNE）
內置高清晰攝像頭,，方便用戶隨時觀測樣品
脈沖處理器,，數據處理快速準確
手動開關樣品腔,，操作安全方便
三重安全保護模式
整體鋼架結構,、外型高貴時尚
Fp軟件，無標準樣品時亦可測量

3,、技術指標

分析范圍： Ti-U,，可分析zui高3層15個元素
分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
分析精度：多次測量穩(wěn)定性可達1%.
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）
探測器分辨率：（160±5）eV
光管高壓：5-50kV
管流：50μA-1000μA
環(huán)境溫度：15℃-30℃ 
環(huán)境濕度：30%-70%
準直器：配置不同直徑準直孔，zui小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610（L）x 355（W）x 380（H）mm
儀器重量：30kg

(1),、對鍍層膜厚檢測,、電鍍液分析可精準分析；
(2)重金屬檢測,、槽液雜質檢測,、水質在線監(jiān)測可進行快速檢測，檢測環(huán)境里的重金屬是否超標,。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度,，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口上良好的電制冷半導體探測器,，能量分辨率更優(yōu)于135eV,，測試精度更高。并且不用液氮制冷,，不用定期補充液氮,，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低,。
無損：測試前后,，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖,，可直觀顯示元素含量,。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法,，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關,。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U,。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度,、重復性與穩(wěn)定性很高,。所以，其測量的可靠性更高,。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件,，操作方便、功能強大,，軟件可監(jiān)控儀器狀態(tài),，設定儀器參數，并就有多種良好的分析方法,，工作曲線制作方法靈活多樣,，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器,，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的,，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低,，操作簡單方便,并且維護簡單方便

公司的X熒光檢測技術具有快速,、精確、無損的特點,。X熒光分析儀可以應用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域,，如：電子電器（ROHS分析儀）、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測）,、玩具安全（EN71-3）,、建材(水泥、玻璃,、陶瓷),、冶金(鋼鐵、有色金屬),、石油（微量元素S,、Pb等）、化工,、地質采礦,、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等等,。