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深圳市天瑞儀器有限公司
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X射線無損鍍層測厚儀原理

時間:2023/4/25閱讀:952
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X射線無損鍍層測厚儀:能量X熒光光譜側厚法(質量膜厚)

測試原理:X射線無損鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線,,然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度,,這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線,。而各種物質的強度增加,厚度值也增加,,但不是直線關系,;通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經(jīng)驗系數(shù)法)得到一個接近實際對應關系的曲線.45.jpg

X射線無損鍍層測厚儀器特點 

1、鍍層分析快速,、無損,,對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10秒~3分鐘,,分析高,。

    X射線無損鍍層測厚儀是光物理測量,其對測試樣品不會產(chǎn)生任何的物理,、化學變化,,因此,其屬于無損測量,。同時對測試的樣品不需要任何處理,,分析速度更加快捷。

2,、可測試超薄鍍層,,如:在測試鍍金產(chǎn)品時,可測試0.01米的鍍層厚度,,這是其他測厚設備無法達到的,。

     X熒光通過射線的方式來檢測鍍層的厚度,因此,,其對樣品的表面物質測試為靈敏,,因此,其非常適合測試超薄鍍層,,也是目前超薄鍍層常用的測量方法,。

3、可測試多鍍層,分析遠遠高于其他測量方法,。

X射線具有一定的穿透能力,,因此,在測試鍍層時,,它可以穿透多層鍍層,,通過每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線計算其厚度,并可分析其鍍層的組成,。

4,、可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測厚設備不能做到的。   

5,、對于樣品可進行連續(xù)多點測量,,適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對樣品的復雜面進行測量。

    由于X熒光的無損分析方法,,同時儀器高度的自動化控制技術,,保證測試中可以進行連續(xù)多點測量,不但提高測試效率,,同時可以分析測試樣的厚度分布情況,。

6、對分析的多鍍層每層之間的材料,,要求有明顯的區(qū)別,,即,每層樣品元素有明顯的差別,。

     由于X熒光是通過特征X射線,,對被測樣品進行厚度分析的,因此每層鍍層的材料應有明顯的區(qū)別,。

7,、不可以測試超厚樣品,普通金屬鍍層總厚度一般不超過30微米,。根據(jù)各種元素的能量不同,,測量范圍都不相同. 

8、可以對極小樣品進行測試,,例如:螺絲,、電路板焊盤、接插件的插針等,??梢詫射線照射在樣品的光斑調到很小的地步(可以達到微米級,因此,,超小樣品的測試非常容易,。

9、屬于對比分析儀器,測試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標樣,,雖然有FP法的測試軟件,,但在精準測試中,一定需要標準樣品進行校對,,因此,,企業(yè)應用中采用標樣校對的方法是常見的。

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天瑞Thick800AX熒光鍍層測厚儀

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,,可全自動軟件操作,可多點測試,,由軟件控制儀器的測試點,,以及移動平臺,。是一款功能強大的儀器,,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手,。

應用領域

黃金,,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定,。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),;銀行,首飾銷售和檢測機構,;電鍍行業(yè),。

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