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可能影響數(shù)字超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因就是這個(gè)
數(shù)字超聲波測(cè)厚儀按工作原理分：有共振法,、干涉法及脈沖反射法等幾種,，由于脈沖反射法并不涉及共振機(jī)理,，與被測(cè)物表面的光潔度關(guān)系不密切，所以超聲波脈沖法測(cè)厚儀是很受用戶歡迎的一種儀表,。
數(shù)字超聲波測(cè)厚儀主要有主機(jī)和探頭兩部分組成,。主機(jī)電路包括發(fā)射電路、接收電路,、計(jì)數(shù)顯示電路三部分,，由發(fā)射電路產(chǎn)生的高壓沖擊波激勵(lì)探頭，產(chǎn)生超聲發(fā)射脈沖波,，脈沖波經(jīng)介質(zhì)介面反射后被接收電路接收,，通過(guò)單片機(jī)計(jì)數(shù)處理后，經(jīng)液晶顯示器顯示厚度數(shù)值,，它主要根據(jù)聲波在試樣中的傳播速度乘以通過(guò)試樣的時(shí)間的一半而得到試樣的厚度,。
影響數(shù)字超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因如下
(1) 覆蓋層厚度大于25μm時(shí)，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比;
(2) 基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān);
(3) 任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,,，只有大于這個(gè)厚度，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響;
(4) 渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),,，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的;
(5) 試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大;
(6)基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度，粗糙度增大,，影響增大;
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