固體薄膜測(cè)試儀與普通的光度計(jì)區(qū)別
固體薄膜測(cè)試儀與普通光度計(jì)的區(qū)別
固體薄膜測(cè)試儀,,測(cè)試平臺(tái)超大倉平臺(tái)式設(shè)計(jì),,平行測(cè)試原理 可以測(cè)試1mm--500mm尺寸的固體,,
直接放上測(cè)試平臺(tái)即可,,平穩(wěn),,可靠,,特別是薄膜件 超薄件 平行放誤差小,,方便快捷,準(zhǔn)確,。
普通光度計(jì)是垂直測(cè)試,,附帶樣品架,樣品架是為放盛液體的器皿擺放,,放薄膜或者固體都依賴支架,,夾住或者貼住 樣品,這樣存在誤差,,另外普通光度計(jì)樣品倉小,,放薄膜固體件不能保證樣品垂直,也對(duì)樣品的大小有限制,,
固體薄膜測(cè)試儀 特點(diǎn)規(guī)格小 φ1.5mm -500*500mm固體,、薄膜、透鏡,、平板,、手機(jī)攝像頭、建筑玻璃,、觸屏行業(yè),、紡織、珠寶鑒定,、真空鍍膜等,、單層、多層窗玻璃構(gòu)件光學(xué)性能的測(cè)定,,測(cè)定范圍190-1100nm ,;透射比準(zhǔn)確±0.3%T 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度±0.3nm;雜散光≤0.02%T 狹縫可變 1. 2. 4. 5.儀器等級(jí)優(yōu)于GB/T26798-2011 Ⅱ級(jí).
開機(jī)自校,;聯(lián)PC操作端,;軟件版本UV9.0 win10 64位。