高精度數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀儀器特性：

1,、局部放電是局部過熱,，電器元件和機(jī)械元件老化的預(yù)兆；

2,、局部放電趨勢(shì)是局放隨著時(shí)間的上升指數(shù),；

3、在絕緣結(jié)構(gòu)中產(chǎn)生局部放電時(shí),，會(huì)伴隨產(chǎn)生電脈沖,、超聲波、電磁輻射,、光,、化學(xué)反應(yīng)，并引起局部發(fā)熱等現(xiàn)象,；
由于局部放電存在以上特點(diǎn),，故電氣設(shè)備如何避免局部放電、如何去除局部放電,，從而使設(shè)備正常安全運(yùn)行就成為電力設(shè)備維護(hù)人員多考慮的事情,。為了去除這種潛伏性故障現(xiàn)象，目前針對(duì)伴隨局部放電而產(chǎn)生的一些電脈沖、超聲波,、電磁輻射等信號(hào)而衍生出很多在線檢測(cè)局部放電現(xiàn)象的方法,。

高精度數(shù)字式局部放電檢測(cè)儀注意事項(xiàng)：

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前，試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,，以免線路接錯(cuò),。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接，若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,，這將可能引起人身和設(shè)備事故,。

2．對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外，防止*電暈放電,，尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),，必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩，減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電,。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸,。

3. 一般情況下，在試驗(yàn)過程中,，被試品在耐壓,、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多，此時(shí)儀器的儀表必然會(huì)超出滿刻度,。為防止儀器損壞,，應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn),。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),，再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔，以便記錄測(cè)量值,。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,，一定要從高壓端脫離，并關(guān)閉電源開關(guān),，且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào),。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍，且檔位有指示,，故升壓后根據(jù)放電量大小,，可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),，每降一檔量程擴(kuò)大十倍,；反之，順時(shí)針時(shí),，量程縮小十倍,。
5. 試驗(yàn)完畢后,，應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正，驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,，以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì),。

技術(shù)參數(shù)：

1．可測(cè)試品的電容范圍：6pF~250uF
2．檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)。
3．橢圓掃描時(shí)基
(1) 頻率：50,、100,、150、200,、400Hz
(2) 旋轉(zhuǎn)：以30度為一檔,，可旋轉(zhuǎn)120度。
(3) 工作方式：標(biāo)準(zhǔn)－擴(kuò)展－直線,。
(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍：13~275V,。
4．顯示單元
采用100×80mm矩形示波管，有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕,。
5．放大器
(1) 3dB低頻端頻fL：20,、40KHz任選。
(2) 3dB高頻端頻率fH：200,、300KHz任選,。
(3) 增益調(diào)節(jié)：粗調(diào)6檔，檔間增益差10倍±5%,。
(4) 細(xì)調(diào)范圍：>10倍,。
(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性：<5%,。
6．時(shí)間窗
(1) 窗寬：5度~150度(50Hz) 連續(xù)可調(diào),。
(2) 窗位置：每一窗可旋轉(zhuǎn)0度~170度,。
(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制,。
7、脈沖峰值表
(1) 線性指示：0~10*不大于5%,。
指示：1~10*不大于5%,。
表1 檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值