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產(chǎn)品簡介
適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具；液晶顯示,，自動測量和系數(shù)補償,，并帶有溫度補償功能，自動轉(zhuǎn)換量程,；采用AD芯片控制，恒流輸出,，選配：PC軟件,，保存和打印數(shù)據(jù)，生成報表
詳細(xì)介紹
普通四探針方阻電阻率測試儀 四探針電阻測試儀 型號：HD-FT-331
描述
采用范德堡測量原理能解決樣品因幾何尺寸,、邊界效應(yīng),、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，提供通訊接口,，PC軟件數(shù)據(jù)處理及數(shù)據(jù)分析.中文或英文語言版本.
二.參照標(biāo)準(zhǔn)standard：
硅片電阻率測量的標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造,；GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅,、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.
三.適用范圍Applicable scope：
適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校、科研部門,，是檢驗和分析半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具,；液晶顯示，自動測量和系數(shù)補償,，并帶有溫度補償功能,，自動轉(zhuǎn)換量程；采用AD芯片控制,，恒流輸出,，選配：PC軟件，保存和打印數(shù)據(jù),，生成報表
用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,，高、低溫電熱膜;隔熱,、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布,、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉,、燒結(jié),、濺射、涂覆,、涂布層,，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料,、薄膜材料方阻測試等相關(guān)產(chǎn)品
四.型號及參數(shù)Models and technical parameters
規(guī)格型model | FT-331 |
1.方塊電阻范圍Sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ |
2.電阻率范圍Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm |
測試電流范圍 Test current | 0.1μA ，1μA,，10μA,，100µA，1mA,，10mA,，100mA |
4.電流精度 Current accura | ±0.1%
|
5.電阻精度Resistance | ≤0.3% |
6.顯示讀數(shù)display | 液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度、單位換算,、溫度系數(shù),、電流、電壓,、探針形狀,、探針間距、厚度 ,、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity |
7.測試方式test mode | 普通單電測量general single electrical measurement |
8.工作電源power | 輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W |
9.誤差errors | ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果 Standard Sample results） |
10.選購功能choose to buy | 選購1.pc軟件,； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭,； 選購4.測試平臺,；5.標(biāo)準(zhǔn)電阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform. |
11.測試探頭Test probe | 探針間距選購：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm,；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |