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詳細(xì)介紹
一,、概述：
本儀器采用瞬態(tài)平面熱源法，基于 TPS 瞬態(tài)平面熱源技術(shù),，用 Hot Disk 探頭,。該儀器的優(yōu)點(diǎn)有：
(1)直接測(cè)量熱傳播，可以節(jié)約大量的時(shí)間,；
(2)不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響,；
(3)無須特別的樣品制備，對(duì)固態(tài)材料只需有一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面,。不同類型的材料采用
不同的測(cè)試方案及計(jì)算數(shù)學(xué)模型,，具有測(cè)量速度快,、適用范圍寬及能夠成功避免在實(shí)驗(yàn)過程中自然對(duì)流
的影響等優(yōu)點(diǎn),。實(shí)際測(cè)試材料范圍廣，導(dǎo)熱系數(shù)范圍寬,，試樣處理簡單,，測(cè)試速度快的優(yōu)點(diǎn)，是目前比
較流行的測(cè)試方法,。
設(shè)備參考標(biāo)準(zhǔn)：ISO 22007-2:2008, GB/T32064-2015 ,。
測(cè)試材料: 金屬、合金,、石墨,、導(dǎo)熱硅脂、硅膠,、硅橡膠,、陶瓷、巖土,、巖石,、聚合物、紙,、織
物,、泡沫塑料,、混凝土、復(fù)合板材,、紙蜂窩板等固體,、粉末、液體,、糊狀,、涂層、薄膜,、保溫材料,、絕
熱材料、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù),、導(dǎo)溫系數(shù)（熱擴(kuò)散系數(shù)）和比熱容,、蓄熱系數(shù)及熱阻。
二,、主要技術(shù)參數(shù)：
1.導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍：0.001～500 w/(m.k),分辯率為 0.0001w/(m.k),；
2.熱擴(kuò)散系數(shù)（導(dǎo)溫系數(shù)）范圍：0.1～100 m 2/s；
3.蓄熱系數(shù)范圍：0.1～30 w/(m 2.k),；
4.比熱容范圍：0.1～5 kJ/(kg.℃),；
5.熱阻范圍：0.5～0.000005 mm 2.k/w；
6.溫度測(cè)量精度：≤0.0001℃,；
7.測(cè)量相對(duì)誤差：≤3%,；
8.重復(fù)性誤差：≤ 3%；
9.測(cè)試時(shí)間：1～120 秒,。
10.試樣測(cè)試環(huán)境溫度范圍：-40～150℃,；標(biāo)準(zhǔn)配置：室溫。
可根據(jù)客戶要求選配各種高,、低溫度段控制箱(-40～150℃)或真空狀態(tài)下的測(cè)試狀態(tài),合同約
定,，費(fèi)用另計(jì)；
11.探頭配置：標(biāo)準(zhǔn)配置：直徑Φ15mm,。
可根據(jù)客戶要求選配探頭直徑：Φ30mm,Φ15mm,Φ7.5mm,Φ4mm 或同時(shí)配置,，合同約定，費(fèi)用
另計(jì),；
12. 各類試樣測(cè)試：
a,、固體塊狀或圓形、方形,、異形樣品,，無須特別制備，只需一個(gè)相對(duì)平整的樣品表面,配有專
用試樣裝夾裝置,。
b,、對(duì)粉狀,、糊狀、液狀物質(zhì)無特殊要求,配有專用試樣測(cè)試盒,。
c,、所測(cè)較薄材料（厚度 0.01～1mm）,專用測(cè)試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測(cè)試。
d,、高導(dǎo)材料（100～500W）,專用測(cè)試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測(cè)試,。
e、絕熱保溫材料（
0.010～0.050W）,專用測(cè)試方案與數(shù)學(xué)模型進(jìn)行測(cè)試,。
13.采用全自動(dòng)測(cè)試軟件,，快速準(zhǔn)確對(duì)樣品進(jìn)行試驗(yàn)過程參數(shù)分析和報(bào)告輸出。
14.電源：AC 220V±10%,，50/60 Hz, 整機(jī)功率：＜500w,；
三、成套性
1,、主機(jī)一臺(tái),；
2、分析軟件一套（中,、英文版）,；
3、臺(tái)式聯(lián)想電腦一臺(tái)（用戶可自選）,；
4,、石英標(biāo)樣二塊；
5,、隨機(jī)配件一套（脂,、膏狀,、粉狀測(cè)試盒,、試驗(yàn)架各一套)。
四,、外形尺寸,、重量
1、主機(jī)： 臺(tái)式（長×寬×高） 400×450×450mm, 凈重： 20Kg,。
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