HAD-2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換,，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸,、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,，大大提高精確度,，特

雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀 雙電測(cè)四探針檢測(cè)儀 型號(hào):HD-2263/ST2263

概述
HD-2263型雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)-改進(jìn)形范德堡測(cè)量方法測(cè)試電阻率/方阻的多用途綜合測(cè)量?jī)x器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量,，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試,。
儀器成套組成：由主機(jī),、選配的四探針探頭、測(cè)試臺(tái)以及PC軟件等部分組成,。
主機(jī)主要由精密恒流源,、高分辨率ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成,，USB通訊接口,。儀器主機(jī)所有參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開(kāi)關(guān)輸入,；具有零位,、滿度自校功能；測(cè)試功能可自動(dòng)/手動(dòng)方式,；儀器操作可由配套軟件在PC機(jī)上操作完成,，也可脫P(yáng)C機(jī)由四探針儀器面板上獨(dú)立操作完成。測(cè)試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示,，也可連機(jī)由軟件界面同步顯示,、分析,、保存和打印,！
探頭選配：根據(jù)不同材料特性需要,，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,，以測(cè)試硅類半導(dǎo)體,、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻,；也有球形鍍金銅合金探針探頭,，可測(cè)柔性材料導(dǎo)電薄膜、金屬涂層或薄膜,、陶瓷或玻璃等基底上導(dǎo)電膜（ITO膜）或納米涂層等半導(dǎo)體材料的電阻率/方阻,。換上四端子測(cè)試夾具，還可對(duì)電阻器體電阻,、金屬導(dǎo)體的低、中值電阻以及開(kāi)關(guān)類接觸電阻進(jìn)行測(cè)量,。
測(cè)試臺(tái)選配：一般四探針?lè)y(cè)試電阻率/方阻配HAD-A或HAD-B或HAD-C或HAD-F型測(cè)試臺(tái),。
詳見(jiàn)《四探針儀器、探頭和測(cè)試臺(tái)的特點(diǎn)與選型參考》
儀器具有測(cè)量精度高,、靈敏度高,、穩(wěn)定性好、智能化程度高,、測(cè)量簡(jiǎn)便,、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn),。
儀器適用于半導(dǎo)體材料廠器件廠,、科研單位、高等院校對(duì)導(dǎo)體,、半導(dǎo)體,、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測(cè)試，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試,。
三,、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測(cè)量范圍
電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm
方 阻：5×10-4～1×106 Ω/□,，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□
電 阻：1×10-5～2×105 Ω ,，分辨率：1×10-6～1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測(cè)試臺(tái)決定和測(cè)試方式?jīng)Q定)
直 徑：HAD-A圓測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 Φ15～130mm，手持方式不限
HD-B/C/F方測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式180mm×180mm,，手持方式不限.
長(zhǎng)(高)度：測(cè)試臺(tái)直接測(cè)試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測(cè)量方位: 軸向,、徑向均可

量程劃分及誤差等級(jí)

四探針探頭（選配其一或加配全部）
(1)碳化鎢探針：Φ0.5mm,，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm,，直線或方形探針間距2.0mm,，探針壓力: 0～0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W
3.7 外形尺寸：
主機(jī) 220mm（長(zhǎng)）×245 mm（寬）×100mm（高）