當(dāng)前位置:北京斯達(dá)沃科技有限公司>>物性分析常用儀器>>測厚儀>> ScopeX PILOT型ScopeX PILOT 臺(tái)式鍍層測厚儀
ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測厚儀畫冊
產(chǎn)品概述:
ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測厚儀采用下照式設(shè)計(jì),,搭載優(yōu)良的Muti-FP算法軟件和微光聚集技術(shù),以及高敏變焦測距裝置,, 對不均勻,、不規(guī)則,甚至微小件等形態(tài)的樣品,,都能夠快速,、精準(zhǔn)、無損檢測,,可輕松應(yīng)對鍍層領(lǐng)域的表面處理的過程控制,、產(chǎn) 品質(zhì)量檢驗(yàn)等環(huán)節(jié)中的檢測和篩檢難題,被廣泛應(yīng)用于珠寶首飾,、電鍍行業(yè),、汽車行業(yè)、五金衛(wèi)浴,、航空航天,、電子半導(dǎo)體等 多種領(lǐng)域。
產(chǎn)品原理:
用X射線轟擊樣品,樣品受激發(fā)后產(chǎn)生X射線熒光,。X射線通常把元素原子K層和L層的內(nèi)層電子打?qū)缭?,產(chǎn)生的空穴被高能量的 外層電子填補(bǔ)。補(bǔ)充到低能量軌道上的高能量電子把多余的能量以X射線熒光輻射岀來,。這些輻射岀來的譜線中含有各種元素的 特征,。像指紋一樣,并且獨(dú)立于原子的化學(xué)價(jià)態(tài),。輻射的強(qiáng)度與樣品中該元素的濃度成正比,。
儀器工作原理
ScopeX PILOT臺(tái)式鍍層測厚儀使用微聚焦X射線管將X射線源的大部分射線收集并匯聚成微束斑,照射在樣品位置,, 從而獲得良好的空間分辨率及很強(qiáng)的熒光信號,,通過能譜探頭及后續(xù)的數(shù)據(jù)處理器等采集、處理并評價(jià)樣品被輻照后產(chǎn) 生的熒光信號,,得出樣品的成分信息,。它可實(shí)現(xiàn)更復(fù)雜應(yīng)用的快速測量和精準(zhǔn)分析,是對不均勻或形狀不規(guī)則的未知樣 品以及微觀物體進(jìn)行元素分析的理想方法,。
性能優(yōu)勢:
1,、微焦X射線裝置:測試各類極微小的樣品,即使檢測面積微 小的樣品也可輕松,、精準(zhǔn)檢測,。
2、無損檢測:X射線熒光是無損分析過程,,不留任何痕 跡,,即使是對敏感性材料,其測量也是非 常安全的,。
3,、多準(zhǔn)直器濾光片:多濾光片和多準(zhǔn)直器可選或軟件自動(dòng)切 換組合,使得儀器的多功能性得以顯著提 升,,以靈活應(yīng)對不同尺寸的零件,。
4、變焦裝置:可對各種異形凹槽樣品進(jìn)行檢測,,凹槽深 度測量范圍可達(dá)0~30 mm,。
5、下照式設(shè)計(jì):從下往上測量,,無需額外對焦,,可輕松實(shí) 現(xiàn)對鍍層樣品的高效測量。
6,、高精度手調(diào):搭載高精度手調(diào)X-Y平臺(tái),,最高精度可達(dá) 25μm,,使微區(qū)測量更便捷。
規(guī)格參數(shù):
1,、元素范圍:Al(13)-Fm(100)
2,、分析層數(shù):5層(4層+基材)每層可分析10種元素,成分分析最多可分析25種元素
3,、X射線管:50 W(50kV,,1mA)微聚焦鎢鈀射線管(靶材可選配)
4、探測器:Si-Pin探測器,,(可選配高靈敏度SDD探測器)
5,、準(zhǔn)直器:φ0.1-φ3可選,多準(zhǔn)可選
6,、相機(jī):高分辨率CMOS彩色攝像頭,,500萬像素
7、放大倍數(shù):40x-160x
8,、手動(dòng)樣品:XY平臺(tái)移動(dòng)范圍:50x50 mm
9、濾光片:固定初級濾光片,,多濾光可選形尺寸
10,、樣品倉尺寸:320×480×130mm(W×D×H)
11、外形尺寸:330×580×360mm(W×D×H)
12,、重量:40KG
13,、電源:AC 220V±5V 50Hz(各地區(qū)配置稍有不同)
14、額定功率:150W
應(yīng)用領(lǐng)域:
緊固件,、五金小零件,、珠寶首飾、汽車零部件