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在尺寸表征領域，主要有掃描/透射/掃描透射電鏡（SEM/TEM/STEM）和動態(tài)光散射（即DLS）兩種方法,。不幸的是,，我們發(fā)現與 SEM/TEM/STEM 技術相比，DLS 不適合準確確定納米/微球的尺寸分布,。 
 

• DLS 結果與膠體穩(wěn)定性密切相關,，不可避免地會導致大尺寸納米粒子的尺寸分布不準確。對于低于 100 nm 的納米粒子,，流體動力學尺寸變得相關,。然而，對于幾百納米左右或以上的納米粒子,，膠體穩(wěn)定性受重力作用的影響很大,。相比之下，SEM/TEM/STEM 圖像僅基于干燥樣品,，在我們的案例和文獻中通過大量研究已經看到更高的再現性和可靠性,。

• DLS 無法區(qū)分納米粒子本身和表面活性劑的聚集體。由于我們的大多數膠體納米/微球都在系統(tǒng)中故意添加了痕量表面活性劑以延長使用壽命,，因此 DLS 變得不適合直接尺寸測量,，除非納米/微球用 Milli-Q 水或去離子水至少洗滌 3 次- 離子水以去除表面活性劑的任何痕跡。同樣,，由于重新懸浮效率低下而導致的納米/微球也會扭曲 DLS 結果,；例如,，在 DLS 測量下，幾個聚集的 100 nm 納米粒子可能被視為 200 nm 或 300 nm 納米粒子,。

• DLS 無法深入了解 納米/微球的形狀或球度。在 DLS 測量下,，不規(guī)則形狀的顆粒和球形顆?？梢缘玫?/span> 相同的解釋。

因此,，我們使用 SEM/TEM/STEM 技術代替 DLS 測量作為我們的常規(guī)質量控制方法,。我們通常會拍攝至少 10 張電子顯微照片，并使用 ImageJ 處理它們以獲得尺寸分布和 CV 值,。這也是我們通常在向客戶交付產品時隨附幾張具有代表性的 SEM/TEM/STEM 圖片的原因,。我們希望揭示真實的尺寸分布，讓客戶直接可視化納米/微球的圖像,，而不是間接查看擬合曲線,。