中瑞祥表面涂層測(cè)厚儀的影響因素以及使用規(guī)定
測(cè)量原理
. 磁吸力測(cè)量原理及測(cè)厚儀
磁鐵(測(cè)頭)與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關(guān)系,，這個(gè)距離就是覆層的厚度。利用這原理制成測(cè)厚儀,，只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大,，就可行測(cè)量。鑒于大多數(shù)業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用廣,。測(cè)厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧,，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)組成,。磁鋼與被測(cè)物吸合后，將測(cè)量簧在其后逐漸拉長(zhǎng),，拉力逐漸增大,。當(dāng)拉力剛好大于吸力，磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度,。新型的產(chǎn)品可以自動(dòng)成這記錄過(guò)程。不同的型號(hào)有不同的量程與適用場(chǎng)合,。
這種儀器的點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便,、堅(jiān)固耐用、不用電源,，測(cè)量前無(wú)須校準(zhǔn),，價(jià)格也較低，很適合車(chē)間做現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制
使用規(guī)定
a 基體金屬性
對(duì)于磁性方法,，標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。 對(duì)于渦流方法,，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否過(guò)臨界厚度,，如果沒(méi)有,，可采用3.3中的某種方法行校準(zhǔn)。
c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處行測(cè)量。
d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量,。
e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不相同,，因此須在每測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局差異，也要求在給定的面積內(nèi)行多次測(cè)量,，表面粗時(shí)更應(yīng)如此,。
f 表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的何附著物質(zhì),，如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去何覆蓋層物質(zhì)
涂層測(cè)厚儀中F,，N以及FN的區(qū)別:
F代表ferrous 鐵磁性基體,，F型的涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)原理， 來(lái)測(cè)量鋼,、鐵等鐵磁質(zhì)金屬基體上的非鐵磁性涂層,、鍍層，例如:漆,、粉末,、塑料、橡膠,、合成材料,、磷化層、鉻,、鋅,、鉛、鋁,、錫,、鎘、瓷,、琺瑯,、氧化層等。
N代表Non- ferrous非鐵磁性基體,，N型的涂層測(cè)厚儀采用電渦流原理;來(lái)測(cè)量用渦流傳感器測(cè)量銅,、鋁、鋅,、錫等基體上的琺瑯,、橡膠、油漆,、塑料層等,。
FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理，又采用采用電渦流原理,，是F型和N型的二合型涂層測(cè)厚儀,。
影響因素
有關(guān)說(shuō)明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件行校準(zhǔn),。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器行校準(zhǔn),。
c 基體金屬厚度
每種儀器都有個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處行測(cè)量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,，影響增大,。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí),，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙,，還須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)
