測厚儀(thickness gauge )是用來測量材料及物體厚度的儀表,。在業(yè)生產中用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度(如鋼板、鋼帶,、薄膜,、紙張、金屬箔片等材料),。
這類儀表中有利用聲波頻率變化的聲波厚度計;有利用渦流原理的電渦流厚度計;還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等,。
主要類型
用于測定材料本身厚度或材料表面覆蓋層厚度的儀器。有些構件在制和檢修時須測量其厚度,，以便了解材料的厚薄規(guī)格,，各點均勻度和材料腐蝕、磨損程度;有時則要測定材料表面的覆蓋層厚度,，以保證產量和生產安,。根據測定原理的不同，常用測厚儀有聲,、磁性,、渦流、同位素等四種,。
聲波測厚儀聲波在各種介質中的聲速是不同的,，但在同介質中聲速是常數。聲波在介質中傳播遇到二種介質時會被反射,，測量聲波脈沖從發(fā)射至接收的間隔時間,，即可將這間隔時間換算成厚度。在電力業(yè)中應就是這類測厚儀,。常用于測定鍋爐鍋筒,、受熱面管子、管道等的厚度,，也用于校核件結構尺寸等,。這類測厚儀是攜帶式的,，體積與小型半導體收音機相近，厚度值的顯示多是數字式的,。對于鋼材,，大測定厚度達2000 mm左右，度在±0.01~±0.1 mm之間,。
磁性測厚儀在測定各種導磁材料的磁阻時,，測定值會因其表面非導磁覆蓋層厚度的不同而發(fā)生變化。利用這種變化即可測知覆蓋層厚度值,。常用于測定鐵磁金屬表面上的噴鋁層,、塑料層、電鍍層,、磷化層,、油漆層等的厚度。
渦流測厚儀當載有頻電流的探頭線圈置于被測金屬表面時,，由于頻磁場的作用而使金屬體內產生渦流,，此渦流產生的磁場又反作用于探頭線圈，使其阻抗發(fā)生變化,，此變化量與探頭線圈離金屬表面的距離(即覆蓋層的厚度)有關,，因而根據探頭線圈阻抗的變化可間接測量金屬表面覆蓋層的厚度。常用于測定鋁材上的氧化膜或鋁,、銅表面上其他緣覆蓋層的厚度,。
同位素測厚儀利用物質厚度不同對輻射的吸收與散射不同的原理，可以測定薄鋼板,、薄銅板,、薄鋁板、硅鋼片,、合金片等金屬材料及橡膠片,，塑料膜，紙張等的厚度,。常用的同位素射線有γ射線,、β射線等,。
