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產(chǎn)品簡介
介損測試儀介質(zhì)損耗測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,，再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法,，通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。
詳細(xì)介紹
在交流電壓作用下,，電介質(zhì)要消耗部分電能,，這部分電能將轉(zhuǎn)變?yōu)闊崮墚a(chǎn)生損耗。這種能量損耗叫做電介質(zhì)的損耗,。當(dāng)電介質(zhì)上施加交流電壓時(shí),，電介質(zhì)中的電壓和電流間成在相角差ψ，ψ的余角δ稱為介質(zhì)損耗角,，δ的正切tgδ稱為介質(zhì)損耗角正切,。tgδ值是用來衡量電介質(zhì)損耗的參數(shù),。儀器測量線路包括一標(biāo)準(zhǔn)回路（Cn）和一被試回路(Cx)，如圖2—1所示,。標(biāo)準(zhǔn)回路由內(nèi)置高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器與測量線路組成,，被試回路由被試品和測量線路組成。測量線路由取樣電阻與前置放大器和A/D轉(zhuǎn)換器組成,。通過測量電路分別測得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差,，再由數(shù)字信號處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值,。儀器內(nèi)部已經(jīng)采用了抗干擾措施,，保障在外電場干擾下準(zhǔn)確測量。
主要技術(shù)參數(shù)
1 | 使用條件 | -15℃∽40℃ | RH＜80% | ||
2 | 抗干擾原理 | 變頻法 | |||
3 | 電 源 | AC 220V±10% | 允許發(fā)電機(jī) | ||
4 | 高壓輸出 | 0.5KV∽10KV | 每隔0.1kV | ||
精 度 | 2% | ||||
大電流 | 200mA | ||||
容 量 | 2000VA | ||||
5 | 自激電源 | AC 0V∽50V/15A | 45HZ/55HZ 47.5HZ/52.5HZ 55HZ/65HZ 57.5HZ/62.5HZ 自動(dòng)雙變頻 | ||
6 | 分 辨 率 | tgδ: 0.001% | Cx: 0.001pF | ||
7 | 精 度 | △tgδ:±(讀數(shù)*1.0%+0.040%) | |||
△C x :±(讀數(shù)*1.0%+1.00PF) | |||||
8 | 測量范圍 | tgδ | 無限制 | ||
C x | 15pF＜ Cx ＜ 300nF | ||||
| 10KV | Cx＜ 40 nF | |||
| 5KV | Cx＜ 150 nF | |||
| 1KV | Cx＜ 300 nF | |||
CVT測試 | Cx＜ 300 nF | ||||
9 | 外型尺寸（主機(jī)）(mm) | 350（L）×270（W）×270（H） | |||
外型尺寸(附件箱)(mm) | 350（L）×270（W）×160（H） | ||||
10 | 存儲器大小 | 200組 支持U盤數(shù)據(jù)存儲 | |||
11 | 重量（主機(jī)） | 22.75Kg | |||
重量（附件箱） | 5.25Kg | ||||
介損測試儀介質(zhì)損耗 介質(zhì)損耗測試儀 介損測試儀介質(zhì)損耗
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