詳細(xì)介紹
一、介質(zhì)損耗儀概說(shuō)
SHJS型系列抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種*的測(cè)量介質(zhì)損耗( tgδ)和電容容量( Cx )的儀器,,用于工頻高壓下,,測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管,、電力電纜,、電容器、互感器,、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗( tgδ)和電容容量( Cx ),。它淘汰了QSI高壓電橋,具有操作簡(jiǎn)單,、中文顯示,、打印,使用方便,、無(wú)需換算,、自帶高壓,抗干擾能力強(qiáng) 等優(yōu)點(diǎn),。體積小,、重量輕,,是我廠的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀,。
二、介質(zhì)損耗儀技術(shù)指標(biāo)
1.環(huán)境溫度:0~40℃(液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)日照)
2.相對(duì)濕度:30%~70%
3.供電電源:電壓:220V±10%,,頻率:50±1Hz
4.外形尺寸:長(zhǎng)×寬×高=490mm×300mm×390mm
5.重量:約18Kg
6.介質(zhì)損耗測(cè)試儀輸出功率:1KVA
7.顯示分辨率:4位
8.測(cè)量范圍:
介質(zhì)損耗(tgδ):0-50%
電容容量(Cx)和加載電壓:
2.5KV檔:≤ 300nF( 300000pF)
3KV檔:≤200nF( 200000pF)
5KV檔:≤ 76nF( 76000pF)
7.5KV檔:≤ 34nF( 34000pF)
10KV檔:≤ 20nF( 20000pF)
9.基本測(cè)量誤差:
介質(zhì)損耗(tgδ): 1%±0.07%(加載電流20μA~500mA)正接
介質(zhì)損耗(tgδ): 2%±0.09%(加載電流?。?mu;A~20μA)反接
電容容量 ( Cx):1.5%±1.5pF
三、介質(zhì)損耗測(cè)試儀結(jié)構(gòu)
儀器為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu),,輸出電壓2.5KV~10KV五檔可調(diào),,以適應(yīng)各種需要,在測(cè)量時(shí)無(wú)需任何外部設(shè)備,。接線與QSI電橋相似,,但比其方便。
圖一為儀器操作面板圖,,圖二為儀器接線端面圖,。
⑴ 顯示窗————————液晶顯示屏。
⑵ 試驗(yàn)電壓選擇開(kāi)關(guān)———當(dāng)開(kāi)關(guān)置于“關(guān)”時(shí),,儀器無(wú)高壓輸出,。
⑶ 操作鍵盤(pán)———————選擇測(cè)量方式、起動(dòng),、停止,、打印等操作,。
⑷ 電源插座——————— 保險(xiǎn)絲用5A。
⑸ 電源開(kāi)關(guān)———————電源通斷,。
⑹ 起動(dòng)燈————————指示高壓輸出,。
⑺ 打印機(jī)————————打印測(cè)試結(jié)果。
★★★★⑻ 接地端子——————使用前,,必須將該端子可靠接地?。?!
★⑼ 測(cè)量電流輸入端IX———有兩個(gè)出線頭,,中心頭(紅色,有CX標(biāo)記)應(yīng)與被 試品一端相接,,屏蔽頭(黑色,,有E標(biāo)記)是儀器內(nèi)部高壓輸出 一個(gè)參考端,在 正接法測(cè)量時(shí)應(yīng)接地,;在反接法測(cè)量時(shí)應(yīng)浮空,;外接法參見(jiàn)“外接高壓法”。
★⑽ 標(biāo)準(zhǔn)電流輸入端IN———僅當(dāng)外接標(biāo)準(zhǔn)電容器進(jìn)行測(cè)量時(shí)才用,,該端應(yīng)與外接 標(biāo)準(zhǔn)電容器 一端相連,。IN必須小于100mA!??!
⑾ 介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量高壓輸出端UH——只有一個(gè)大鐵夾出線頭(有UH標(biāo)記),與被試品一端 相接,。