方法概述
1,、SF6 氣體濕度的測(cè)量
對(duì)于SF6 氣體濕度的測(cè)量，常用的方法有鏡面法,、重量法,、庫侖電解法、電容法等,，*,、二種方法對(duì)環(huán)境條件要求比較高，測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng),，怕污染等,，一般只用作仲裁分析；第三種方法測(cè)量時(shí)耗氣量較大,、怕污染,，測(cè)量的時(shí)間長(zhǎng)等，智能SF6微水儀技術(shù)參數(shù)使用時(shí)設(shè)備要提前一天通電通氣干燥,，而且重復(fù)性差,。第四種方法也就是目前采用zui多的方法，由于它測(cè)量時(shí)間短,、耗氣量小,、不怕污染等優(yōu)點(diǎn),。
 

2.H2 濕度的測(cè)量
通常測(cè)量方法有通風(fēng)干濕球法、庫侖電解法,，*種方法受環(huán)境溫度,、濕度影響較大，測(cè)定值偏高,；第二種方法除具前述缺點(diǎn)外,，還怕染等。
基于上述原因,，我們?cè)谖諊鴥?nèi)外一些生產(chǎn)濕度儀廠家的*技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)基礎(chǔ)上,，進(jìn)行了創(chuàng)新，開發(fā)出具有國內(nèi)水平

智能SF6微水儀技術(shù)參數(shù)重要性

水份是影響絕緣老化的一個(gè)重要因素,，含水量過高,，會(huì)使絕緣材料的絕緣性能下降并加速其老化，從而導(dǎo)致運(yùn)行設(shè)備的可靠性降低,，壽命縮短,。電氣設(shè)備內(nèi)部水分的主要來源：（1）外部侵入；（2）本身產(chǎn)生的,。*種情況是由于設(shè)備在制造,、運(yùn)輸、安裝過程中,，保護(hù)措施不當(dāng)所引起的,。第二種情況是由于設(shè)備在運(yùn)行過程中絕緣介質(zhì)的氧化及裂解而產(chǎn)生的水分。
對(duì)于氫冷機(jī)組來說,，氫氣濕度高是影響發(fā)電機(jī)安全運(yùn)行的主要因素之一,，隨著大容量、高參數(shù)機(jī)組的不斷投產(chǎn),，國內(nèi)已發(fā)生多起因氫氣濕度超標(biāo)而燒毀發(fā)電機(jī)組的惡性事故,。傳統(tǒng)測(cè)濕儀的參數(shù)測(cè)定準(zhǔn)確已無法保障設(shè)備的安全運(yùn)行,，不能滿足電力系統(tǒng)的需要,。