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日本原裝NF 高精度LCR測試儀ZM2371/ZM2372/ZM2376介紹：
日本原裝NF 高精度LCR測試儀ZM2371測量范圍從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz,，測量精度0.08 %,。測量速度 快2ms,。實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量,，可對應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途,。
測量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測量儀ZM系列
實現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測量,，可對應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途
偏差小的高再現(xiàn)性 測量示例
按照以下條件使用ZM2372和ZM2376,，對1nF的電容反復(fù)測量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376,，測量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高,。
寬頻測量范圍和高分辨率設(shè)定
ZM2371/ZM2372覆蓋了1mHz～100kHz,、ZM2376覆蓋了1mHz～5.5MHz的頻率范圍,。并可設(shè)定5位數(shù)/6位數(shù)的分辨率*，因此除了在實際使用頻率對各種部件進(jìn)行測量外,，還可以對參數(shù)的頻率依賴性進(jìn)行評價,。
*ZM2371/ZM2372：5位數(shù),、ZM2376：6位數(shù)
廣域的測量電平和ALC功能
對10mVrms～5Vrms/1μArms～200mArms的測量信號電平可進(jìn)行3位數(shù)分辨率的設(shè)置,。另外，利用ALC（自動電平控制）功能可以設(shè)置定電壓/定電流驅(qū)動,，因此可用考慮到試樣電壓/電流依賴性的穩(wěn)定驅(qū)動信號來驅(qū)動,，可實現(xiàn)高再現(xiàn)性的測量,。
快速測量
測量時間可以在RAP (Rapid),，F(xiàn)AST,，MED (Medium),，SLOW，VSLO (Very Slow) 這5種等級切換,。選擇RAP,，可以實現(xiàn)2ms (1kHz/1MHz)、10ms (120Hz) 的快速測量,?？焖佟⒏呔鹊腖CR測量儀有助于提高生產(chǎn)線及自動檢查裝置的測量效率,。
高精度
實現(xiàn)了基本精度0.08%,、顯示分辨率多6位數(shù)的高精度測量。值得信賴的測量在從zuixian端器件的開發(fā)到檢查線零部件分選,，對提高產(chǎn)品性能和品質(zhì)*的,。
DC偏置電壓
ZM2371/ZM2372內(nèi)置了0～＋2.5V、ZM2376內(nèi)置了0～＋5V的DC偏置用電源,，可以測量電解電容等極性零部件,。
ZM2376還可以快速測量鋰離子電池（單電池）等的阻抗。
另外,，如果使用選購的DC電壓偏置適配器*,，可在試樣上加載
±40V的偏置電壓，測量大容量積層陶瓷電容的電壓依賴性等,。
*選購
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直流電阻 (DCR) 測量
可測量線圈及變壓器的卷線電阻的直流電阻,?？梢酝瑫r在主參數(shù)中顯示電感，在副參數(shù)中顯示直流電阻的測量值,。
接觸檢查功能
● ZM2372
4端子接觸檢查
為了防止因測量先端部與零部件間接觸不良造成的誤測量或錯誤分選,，ZM2372采用4個測量端子來進(jìn)行接觸檢查判斷，由此排除不良產(chǎn)品,。
（進(jìn)行接觸檢查的額外時間 4ms)
● ZM2376
接觸檢查、低容量檢查
檢測異常的低容量及電壓,、電流,，無需額外時間就能檢測出不良接觸,。
觸發(fā)電路同步驅(qū)動
可以只在接觸期間驅(qū)動試樣的功能,。
可以降低在測量大容量電容時,，由于安裝拆卸試樣造成的接觸損傷。在短時間內(nèi)進(jìn)行測量履歷特性的試樣，測量值會出現(xiàn)較大的誤差,。如使用觸發(fā)電路同步驅(qū)動的話,，加在各試樣上的驅(qū)動信號和取得信號的時間以及相位關(guān)系都是固定的,，可以抑制測量值的誤差，大幅縮短測量時間,。
偏差顯示
預(yù)先設(shè)置測量部件的顯示值,，可顯示與預(yù)設(shè)值的偏差、偏差%,。 可應(yīng)用于零部件容許差的規(guī)格值的合格判定及溫度特性試驗等,。
比較器
主參數(shù)大可分為14個*的BIN類別，在副參數(shù)中可以對設(shè)定好的1組上下限值的測量結(jié)果進(jìn)行分選,。測量值可通過偏差或偏差%進(jìn)行分選,，判定結(jié)果通過處理器接口*輸出。另外,，根據(jù)判定結(jié)果,，有時會發(fā)出嗶噗的聲音。
在遠(yuǎn)程控制中,，使用限值判定功能,，也可以對主參數(shù)、副參數(shù)的上下限值（各1組）進(jìn)行判定,。
*ZM2371：多分9類,，未配備處理器接口。
復(fù)合測量 (ZM 2376)
復(fù)合測量是指對一個試樣多可32個步驟的測量條件測量,，綜合的進(jìn)行合格判定的功能,。可設(shè)定每個步驟的測量頻率,、測量信號電平,、內(nèi)部DC偏壓、測量參數(shù)等,，對主參數(shù)的上下限值1組,、副參數(shù)的上下限值1組進(jìn)行測量和限值判定。
*ZM2376*的功能。
接口
標(biāo)配遠(yuǎn)程控制用的各種接口,。無需追加選購件就可對應(yīng)生產(chǎn)線嵌入及自動檢查系統(tǒng)等,。
| 接口 | ZM2371 | ZM2372 | ZM2376 |
| USB | ○ | ○ | ○ |
| RS232 | ○ | ○ | ○ |
| GPIB | - | ○ | ○ |
| LAN | - | - | ○（可選） |
| 處理器 | - | ○ | ○ |
嵌入部件的生產(chǎn)線,、分選裝置中。
快速度2ms,、偏差小的測量,、抑制連接試樣電纜造成影響的補償功能、比較器及接觸檢查*
等功能,，并且還配備了自動分選用處理器接口*,，足以應(yīng)對各種生產(chǎn)線需求。
*ZM2371未配備,。
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嵌入部件的生產(chǎn)線,、分選裝置中。
快速度2ms,、偏差小的測量,、抑制連接試樣電纜造成影響的補償功能、比較器及接觸檢查*
等功能,，并且還配備了自動分選用處理器接口*,，足以應(yīng)對各種生產(chǎn)線需求。
快速測量鋰離子電池的阻抗,。
ZM2376的內(nèi)部DC偏置電壓大可設(shè)置為+5V,，因此可以測量電動勢超過3V的鋰離子電池（單電池）。
另外,，可從1mHz的低頻率開始測量,，因此可以對電池的內(nèi)部阻抗進(jìn)行詳細(xì)評價。
標(biāo)配了可以進(jìn)行各種測量條件設(shè)定及獲取,、顯示測量數(shù)據(jù)的軟件,。
可獲得CSV文件形式的測量數(shù)據(jù)，方便在研究開發(fā)中的大量數(shù)據(jù)的處理,。此外,，可通過掃頻測量，對應(yīng)阻抗 頻率特性的測量,。
| 2323A 直接連接型測試夾具 對于帶有引線的電子元件,，可直接插入本測試夾具進(jìn)行測量。無論是平行引線還是逆向引線的元件,勿須彎曲引線即可測試 |
| 2324 四端子鱷魚夾測試引線 采用四端子對法,，對于低阻抗的四端子元件進(jìn)行測試時所采用的測試引線,，其電流供給與電壓測量分別使用不同的端子。 |
| ZM2391 三端子鱷魚夾測試引線 備有簡易測量用的三端子型測試引線,。 |
| 2325A（L/M）開爾文夾測試引線 這是用兩個夾具,、能連接至四個端子的測試引線。對于大型或特殊形狀,、并難于插入直接連接型測試夾具的電子元件,，可使用本測試引線。現(xiàn)備有標(biāo)準(zhǔn)L型和配備小型夾具的M型可供選用,。 | |
 [M 型] |  [L 型] | |
| ZM2392 開爾文夾測試引線 備有簡易測量用的測試引線,。 |
| 2326A 芯片元件用的測試引線 鑷狀測試引線使表面貼裝芯片等元件的測量更加方便。其頂端的測量觸點是可裝卸的,。 |
| ZM2393 芯片測試夾具 本測試夾具用于測量與線路板表面直接連接使用的SMD（表面貼裝器件）/芯片元件,。其特點是雜散電容小、零點校正容易,。 |
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