光譜儀的定量分析是基于熒光X射線的強(qiáng)度,。影響儀器射線強(qiáng)度的因素會影響分析的準(zhǔn)確性。以下是兩個主要因素:
1,、矩陣效應(yīng)
基質(zhì)效應(yīng)包括吸收效應(yīng)和增強(qiáng)效應(yīng),。吸收效應(yīng)包括基板對入射X射線和熒光X射線的吸收。當(dāng)樣品受到輻射激發(fā)時,,它不僅作用于樣品表面,,而且以相應(yīng)的厚度滲入樣品中。樣品中的分析元素形成的熒光X射線只能通過相應(yīng)厚度的樣品發(fā)射,。在穿透過程中,,由于基體元素的吸收,這兩種X射線的強(qiáng)度會減弱,,X射線的減弱會影響分析元素的激發(fā)效率,。
如果光譜儀入射X射線激發(fā)基體元素形成波長略短于分析元素吸收邊的熒光X射線,會使分析元素形成二次熒光X射線,,進(jìn)而增強(qiáng)強(qiáng)度分析元素的熒光X射線,,是基體的增強(qiáng)作用。如果吸收效應(yīng)占優(yōu)勢,,則分析結(jié)果略低,;如果增強(qiáng)效果占優(yōu)勢,則分析結(jié)果較高,。

2,、效果參差不齊
不均勻效應(yīng)是指樣品粒徑不均勻性和樣品表面光滑度對熒光X射線強(qiáng)度的影響。對于粉末樣品,,大顆粒的吸收強(qiáng),,小顆粒的吸收弱。因此,,要求粒徑盡可能小,,以減少對X射線的吸收。測量短波X射線時,粒徑應(yīng)大于250目,,測量波長大于0.2nm的長波X射線時,,粒徑應(yīng)大于400目。
固體樣品必須拋光,,粉末樣品必須壓實以使表面光滑,。粗糙的表面會顯著降低光譜儀熒光X射線的強(qiáng)度。測量短波X射線時,,光潔度約為1005m,,測量長波X射線時,光潔度為20-50mm,。
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