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涂層厚度測量的常用方法
閱讀：2116 發(fā)布時間：2020-10-20覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán),，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的*手段,。為使產(chǎn)品化，我國出口商品和涉外項目中,，對覆層厚度有了明確的要求,。
覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法,，電解法,，厚度差測量法,，稱重法，X射線熒光法,，β射線反向散射法,，電容法、磁性測量法及渦流測量法等,。這些方法中前五種是有損檢測,，測量手段繁瑣，速度慢,，多適用于抽樣檢驗,。
X射線和β射線法是無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測量范圍較小,。因有放射源，使用者必須遵守射線防護規(guī)范,。X射線法可測極薄鍍層,、雙鍍層、合金鍍層,。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量,。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。
隨著技術(shù)的日益進步,，特別是近年來引入微機技術(shù)后,，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能,、多功能,、高精度、實用化的方向進了一步,。市面上很多涂層檢測儀測量的分辨率已達0.1微米,，精度可達到1%，推薦德國EPK600涂層測厚儀,，它適用范圍廣，量程寬,、操作簡便且價廉,，是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。
采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測速度快,，能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。
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