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薄膜測(cè)厚儀,，又稱為測(cè)厚儀、薄膜厚度檢測(cè)儀,、薄膜厚度儀等,，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片,、隔膜,、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量,。
產(chǎn)品用途
塑料薄膜厚度測(cè)量儀適用于塑料薄膜、薄片,、隔膜,、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量,。
符合標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 6672、GB/T 451.3,、GB/T 6547,、ASTM D645、ASTM D374,、ASTM D1777,、TAPPI T411、ISO 4593,、ISO 534,、ISO 3034、DIN 53105,、DIN 53353,、JIS K6250、JIS K6328,、JIS K6783,、JIS Z1702、BS 3983,、BS 4817
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）
0～6mm,；12mm（可選）
分 辨 率：0.1μm
測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）
測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）,；50±1kPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
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