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薄膜厚度測量儀,又被稱為薄膜測厚儀,、膜厚測試儀,、薄膜厚度儀等,是一種用于測量薄膜,、薄片,、塑料片材、鋁箔,、銅箔,、電池隔膜、紙張,、紙板等材料厚度的儀器設(shè)備,。
機械接觸式薄膜測厚儀的測試原理,是通過位移傳感器測試薄膜材料的厚度,。在測試前,,儀器的測量頭落在設(shè)備砧板上,傳感器讀取測量頭的初始位移值,,測量頭抬起后,,將試樣放置在砧板紙上,測量頭以同樣的壓力落在試樣上,,傳感器讀取測量頭的位移值,,兩次位移值之差則為試樣的厚度值。
薄膜厚度測量儀薄膜測厚儀技術(shù)參數(shù):
測試范圍(標配):0~2mm
分辨率:0.1μm
重復(fù)性:0.4μm
測量范圍(選配):0~6,、0~12mm
測量間距:0~1000mm(可設(shè)定)
進樣速度:1.5~80mm/s(可設(shè)定)
測量方式:機械接觸式
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