薄膜測(cè)厚儀，又稱為測(cè)厚儀,、薄膜厚度檢測(cè)儀,、薄膜厚度儀等，薄膜測(cè)厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜,、薄片,、隔膜、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量,。

產(chǎn)品用途

塑料薄膜厚度測(cè)量?jī)x適用于塑料薄膜、薄片,、隔膜,、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量,。

符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 6672、GB/T 451.3,、GB/T 6547,、ASTM D645、ASTM D374,、ASTM D1777,、TAPPI T411、ISO 4593,、ISO 534,、ISO 3034、DIN 53105,、DIN 53353,、JIS K6250、JIS K6328,、JIS K6783,、JIS Z1702、BS 3983,、BS 4817

技術(shù)指標(biāo)

測(cè)量范圍：0～2mm（常規(guī)）

0～6mm,；12mm（可選）

分 辨 率：0.1μm

測(cè)量速度：10次/min（可調(diào)）

測(cè)量壓力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（紙張）

接觸面積：50mm2（薄膜）,；200mm2（紙張）