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美國MAS多功能超聲法粒度分析儀
  • 美國MAS多功能超聲法粒度分析儀

貨物所在地:上海上海市

更新時(shí)間:2025-03-11 21:00:45

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美國MAS多功能超聲法粒度分析儀,,美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)。 可測量參數(shù):粒度分布,、固含量,、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP,、E5A,、電導(dǎo)率、PH,、溫度,、聲衰減;

美國MAS多功能超聲法粒度分析儀
美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè),。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題,,如光學(xué)方法必須要對(duì)樣品進(jìn)行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對(duì)于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 ,。目前,美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成,,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案,。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對(duì)聲波的吸收,、散射作用不同,, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同,。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布。

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體,;

2)無需依賴Double Layer模式,,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;

4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

5)可準(zhǔn)確測量無水體系;

6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),,無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量,;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量,;

8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
美國MAS多功能超聲法粒度分析儀

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)被測樣品無需稀釋,;

2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

3)不需定標(biāo);

4)能分析多種分散物的混合體,;

5)高精度,;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需定標(biāo);

2)能測更寬的粒徑范圍,;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;

5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

6)可適用于無水體系,;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%,;

2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

3)高精度(±0.1mv);

4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;

5)electrosmotic flow不影響測量,;

6)對(duì)流(convection)不影響測量;

7)可準(zhǔn)確測量無水體系,;

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;

2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量,、Zeta電位,、等電點(diǎn)IEP、E5A,、電導(dǎo)率,、PH,、溫度、聲衰減,;

3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));

6)樣品體積:30-230ml,;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

Ztea 500沒有水印.jpg



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