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更新時(shí)間:2025-03-11 21:00:45
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美國MAS多功能超聲法粒度分析儀
美國MAS(Mass Applied Sciences)公司成立至今有30余年歷史,,是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè),。 公司研發(fā)的納米粒度及Zeta電位儀系列產(chǎn)品,解決了目前市面上光學(xué)方法無法克服的納米粒度檢測難題,,如光學(xué)方法必須要對(duì)樣品進(jìn)行稀釋 后測試其粒徑和zeta電位以及對(duì)于復(fù)雜體系無法給出真實(shí)的粒度分布等 ,。目前,美國MNS公司納米粒度及Zeta電位分析儀系列主要由 ZETA-APS,APS-100,ZetaFinder ZF400,ZetaAcoustic ZA500,CHDF-3000/4000組成,,可以為各行業(yè)提供專業(yè)的粒度和Zeta電位解決方案,。 超聲法系列粒度儀測試樣品的原理是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波,由于不同粒徑大小的顆粒對(duì)聲波的吸收,、散射作用不同,, 導(dǎo)致聲波衰減程度不同,。從而通過顆粒的聲衰減譜得到顆粒詳細(xì)準(zhǔn)確的粒度分布。
主要特點(diǎn):
1)能分析多種分散物的混合體,;
2)無需依賴Double Layer模式,,準(zhǔn)確地判定等電點(diǎn);
3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;
5)可準(zhǔn)確測量無水體系;
6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),,無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量,;
7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),被測樣品無需稀釋,,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量,;
8)具有自動(dòng)電位滴定功能;
美國MAS多功能超聲法粒度分析儀
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)被測樣品無需稀釋,;
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;
3)不需定標(biāo);
4)能分析多種分散物的混合體,;
5)高精度,;
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需定標(biāo);
2)能測更寬的粒徑范圍,;
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;
6)可適用于無水體系,;
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:
1)無需稀釋,固合量高達(dá)60%,;
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;
3)高精度(±0.1mv);
4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;
5)electrosmotic flow不影響測量,;
6)對(duì)流(convection)不影響測量;
7)可準(zhǔn)確測量無水體系,;
技術(shù)參數(shù):
1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;
2)可測量參數(shù):粒度分布、固含量,、Zeta電位,、等電點(diǎn)IEP、E5A,、電導(dǎo)率,、PH,、溫度、聲衰減,;
3)Zeta電位測量范圍:+/-500 mv,,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑,;
5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù));
6)樣品體積:30-230ml,;
7)PH范圍:0~14;
8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m
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