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ZetaAPS-美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
  • ZetaAPS-美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

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更新時(shí)間:2025-01-26 21:00:07

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美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀
可以測(cè)試:粒徑、Zeta電位,、滴定,、電導(dǎo)等。
對(duì)于高達(dá)60%(體積)濃度的樣品,,也無需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,,即可直接測(cè)量甚至對(duì)于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量,。

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

Zeta電位測(cè)量方法有哪些,?

   Zeta電位又叫電動(dòng)電位或電動(dòng)電勢(shì)(ζ-電位或ζ-電勢(shì)),是指剪切面(Shear Plane)的電位,,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo),。 


   由于分散粒子表面帶有電荷而吸引周圍的反號(hào)離子,這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布而形成擴(kuò)散雙電層,。根據(jù)Stern雙電層理論可將雙電層分為兩部分,,即Stern層和擴(kuò)散層。當(dāng)分散粒子在外電場(chǎng)的作用下,穩(wěn)定層與擴(kuò)散層發(fā)生相對(duì)移動(dòng)時(shí)的滑動(dòng)面即是剪切面,,該處對(duì)遠(yuǎn)離界面的流體中的某點(diǎn)的電位稱為Zeta電位或電動(dòng)電位(ζ-電位),。即Zeta電位是連續(xù)相與附著在分散粒子上的流體穩(wěn)定層之間的電勢(shì)差。它可以通過電動(dòng)現(xiàn)象直接測(cè)定,。 


 測(cè)量Zeta電位的方法主要有:

 

電泳法-當(dāng)電場(chǎng)施加于電解質(zhì)時(shí),,懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對(duì)抗這種運(yùn)動(dòng),。當(dāng)這兩種對(duì)抗力達(dá)到平衡時(shí),,粒子以恒定的速度運(yùn)動(dòng),我們一般稱這個(gè)速度通為電泳遷移率,。

 

電滲法-單位場(chǎng)強(qiáng)下的液體移動(dòng)速度稱為電滲速度,。液體的電滲速度與固液兩相間的ξ電勢(shì)成簡(jiǎn)單的正比關(guān)系,所以可以利用電滲來測(cè)量ξ電勢(shì),,但此法只限于能形成毛細(xì)管或多孔介質(zhì)的材料,。

 

流動(dòng)電位法-流動(dòng)電勢(shì)是指當(dāng)電解質(zhì)溶液在一個(gè)帶電荷的絕緣表面流動(dòng)時(shí),表面的雙電層的自由帶電荷粒子將沿著溶液流動(dòng)方向運(yùn)動(dòng),,這些帶電荷粒子的運(yùn)動(dòng)導(dǎo)致下游積累電荷,,在上下游之間產(chǎn)生電位差就是流動(dòng)電勢(shì)。

 

超聲電聲法-在膠體溶液兩側(cè)施以電壓,,帶點(diǎn)粒子運(yùn)動(dòng)會(huì)產(chǎn)生聲波,,測(cè)量所產(chǎn)生的聲波,就可以計(jì)算顆粒的動(dòng)態(tài)遷移率,,后通過計(jì)算得到Zeta電位

 

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

典型應(yīng)用:

綜合穩(wěn)定水泥漿,,陶瓷,化學(xué)機(jī)械研磨,,煤漿,,涂料,化妝品,,環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集,,食品工業(yè),乳膠,,微乳,,混合分散體系,納米粉,,無水體系,,油漆成像材料。

主要特點(diǎn):

1)能分析多種分散物的混合體,;

2)無需依賴Double Layer模式,,精確地判定等電點(diǎn),;

3)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系;

4)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

5)可精確測(cè)量無水體系,;

6)Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量,;

7)樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),,被測(cè)樣品無需稀釋,對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量,;

8)具有自動(dòng)電位滴定功能,;

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)被測(cè)樣品無需稀釋;

2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

3)不需定標(biāo),;

4)能分析多種分散物的混合體;

5)高精度,;

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

美國(guó)MAS粒度Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)無需定標(biāo),;

2)能測(cè)更寬的粒徑范圍;

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,;

5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑,;

6)可適用于無水體系;

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,;

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):

1)無需稀釋,,固合量高達(dá)60%;

2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾,;

3)高精度(±0.1mv),;

4)低表面電荷(可低至0. 1mv),;

5)electrosmotic flow不影響測(cè)量,;

6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量;

7)可精確測(cè)量無水體系,;

 

技術(shù)參數(shù):

1)所檢測(cè)粒徑范圍寬:從5 nm至1000um,;

2)可測(cè)量參數(shù):粒度分布、固含量,、Zeta電位,、等電點(diǎn)IEP、E5A,、電導(dǎo)率,、PH、溫度,、聲衰減,;

3)Zeta電位測(cè)量范圍:+/-200 mv,,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑,;

5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù)),;

6)樣品體積:30-230ml;

7)PH范圍:0~14;

8)電導(dǎo)率范圍:0~10 s/m

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