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所在地: 美國
更新時(shí)間:2024-12-09 21:00:07
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粒徑分析儀
原理簡介:
APS 從聲衰減光譜測量產(chǎn)生PSD數(shù)據(jù),,不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜,、pH,、電導(dǎo)率和溫度。
當(dāng)聲音穿越泥漿或膠體時(shí),,是衰減的,。衰減的程度與粒度分布有關(guān)。APS可在1 - 100 MHz的頻率范圍內(nèi)非常準(zhǔn)確地測量聲音衰減,。因?yàn)槁曇舸┻^所有的物質(zhì)媒介,,APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進(jìn)行。粒子沉降并不是一個(gè)問題,,因?yàn)樵跍y量時(shí)樣品可以被攪拌或泵送,。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷,。
APS取樣分析是快速和容易的,,無需稀釋樣品。稀釋樣品費(fèi)時(shí),,容易出錯(cuò),,并可能改變樣品的實(shí)際PSD。簡單地倒,或者連續(xù)泵送樣品進(jìn)入到APS的樣品室,,APS的直觀的軟件在幾分鐘內(nèi)做玩余下的工作,。
計(jì)算詳細(xì)PSD數(shù)據(jù)的技術(shù),不需要假設(shè)PSD形狀,。其他類型的儀器,,例如光散射,意味著軟件或操作者假設(shè)或猜測PSD是單峰,、雙峰,、對(duì)數(shù)正態(tài)或高斯分布的。這種假設(shè)可能導(dǎo)致數(shù)據(jù)不可靠,。
專門的APS硬件設(shè)計(jì)簡化了操作,,同時(shí)減少維護(hù)。這個(gè)設(shè)計(jì)適合研發(fā)以及重復(fù)質(zhì)量控制測量,。APS也適合過程在線操作,。
粒徑分析儀
主要用途:
1)半導(dǎo)體化學(xué)機(jī)械拋光(CMP)料漿;
2)陶瓷,;
3)油墨,;
4)乳劑穩(wěn)定性;
5)藥品,;
6)生物膠體,;
7)熒光粉;
8)有機(jī)和無機(jī)顏料如Ti02和炭黑,;
9)催化劑,;
10)礦物;
11)聚合物乳液,;
12)水和非水分散體系,;
技術(shù)參數(shù):
1)完整的粒度分布,而不是簡單的平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差大小的數(shù)據(jù);
2)不需要稀釋樣品,;
3)不需要假設(shè)PSD形狀,;
4)粒度范圍:0.005-100微米;
5)無電解質(zhì)干涉,;
6)可測量水的/非水的/不透明的/粘性的樣品,;
7)可測量縱向粘度,%固體,,PH值,,電導(dǎo)率,溫度,,聲衰減和聲速度譜,;
8)具有自動(dòng)滴定選項(xiàng);
9)專門技術(shù):1-100MHz聲衰減譜,;
10)溶劑:水/非水,;
11)樣品固體%:0.1-60%體積比;
12)樣品體積:標(biāo)準(zhǔn)是120ml,,50ml小體積可用,;
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)