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ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

典型應(yīng)用：

綜合穩(wěn)定水泥漿，陶瓷,，化學(xué)機(jī)械研磨,，煤漿，涂料,，化妝品,，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè),，乳膠,，微乳，混合分散體系,，納米粉,，無水體系，油漆成像材料,。

主要特點(diǎn)：

1）能分析多種分散物的混合體,；

2）無需依賴Double Layer模式，精確地判定等電點(diǎn),；

3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系,；

4）可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；

5）可精確測(cè)量無水體系,；

6）Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),，無需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量；

7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比),，被測(cè)樣品無需稀釋,，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量；

8）具有自動(dòng)電位滴定功能,；

優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1)被測(cè)樣品無需稀釋,；

2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；

3)不需定標(biāo),；

4)能分析多種分散物的混合體,；

5)高精度；

6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um

ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1)無需定標(biāo),；

2)能測(cè)更寬的粒徑范圍,；

3)無需依賴Double Layer模式

4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲,；

5)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑,；

6)可適用于無水體系,；

7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；

優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

1)無需稀釋，固合量高達(dá)60%,；

2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾；

3)高精度(±0.1mv),；

4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；

5)electrosmotic flow不影響測(cè)量,；

6)對(duì)流(convection)不影響測(cè)量；

7)可精確測(cè)量無水體系；

技術(shù)參數(shù)：

1)所檢測(cè)粒徑范圍寬：從5 nm至1000um；

2)可測(cè)量參數(shù)：粒度分布,、固含量、Zeta電位,、等電點(diǎn)IEP、E5A,、電導(dǎo)率、PH,、溫度,、聲衰減,；

3)Zeta電位測(cè)量范圍：+/-200 mv，低表面電荷(可低至0. 1mv),，高精度(±0.1mv);

4)零表面電荷條件下也可測(cè)量粒徑,；

5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù)),；

6)樣品體積：30-230ml,；

7)PH范圍：0~14;

8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m