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瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解
瑞研光學(xué)小課堂：光學(xué)元件表面質(zhì)量名詞講解
劃痕和麻點(diǎn)（坑點(diǎn)）的評(píng)價(jià)參數(shù)
光學(xué)表面的質(zhì)量用來衡量光學(xué)產(chǎn)品表面特性,，并且涵蓋了一些劃痕和坑點(diǎn)等瑕疵,。這些表面的大部分瑕疵純粹是表面上的瑕疵，并不會(huì)對(duì)系統(tǒng)性能產(chǎn)生很大的影響,，雖然,，它們可能會(huì)使系統(tǒng)通光量出現(xiàn)微小的下滑，使散射光出現(xiàn)更細(xì)微的散射,。然而,，有些表面會(huì)對(duì)這些影響更敏感
- 圖像平面的表面，因?yàn)檫@些瑕疵會(huì)產(chǎn)生聚焦
- 具有高功率級(jí)別的表面,，因?yàn)檫@些瑕疵會(huì)增加能量吸收并毀壞光學(xué)產(chǎn)品,。
表面質(zhì)量常用的規(guī)格是由MIL-PRF-13830B說明的劃痕和坑點(diǎn)規(guī)格。通過將表面的劃痕與在受控的照明條件下提供的一系列標(biāo)準(zhǔn)劃痕進(jìn)行對(duì)比,，來確定劃痕名稱,。
因此，劃痕名稱不是描述其實(shí)際的劃痕,，而是根據(jù)MIL規(guī)格將其與標(biāo)準(zhǔn)的劃痕進(jìn)行比較,。然而，坑點(diǎn)名稱直接與表面的點(diǎn)或小坑有關(guān),?？狱c(diǎn)名稱是通過以微米計(jì)的坑點(diǎn)直徑除以10來計(jì)算的，通常劃痕坑點(diǎn)規(guī)格在80至50之間將視為標(biāo)準(zhǔn)質(zhì)量,，在60至40之間為質(zhì)量,，而在20至10之間將視為高精度質(zhì)量。
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