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廣州鴻熙電子科技有限公司
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當(dāng)前位置:廣州鴻熙電子科技有限公司>>X射線熒光光譜儀>>X射線鍍層測厚儀>> iEDX-150WTX射線金厚測試儀

X射線金厚測試儀

參  考  價:226800
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號

    iEDX-150WT

  • 品牌

    ISP/韓國

  • 廠商性質(zhì)

    代理商

  • 產(chǎn)品資料

    查看pdf文檔

  • 所在地

    廣州市

規(guī)格

標準配置 226800元 1臺 可售

更新時間:2023-04-24 10:03:58瀏覽次數(shù):1353次

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分析含量范圍 0.001μm~50μm 價格區(qū)間 10萬-30萬
能量分辨率 125+5eV 行業(yè)專用類型 通用
儀器種類 臺式/落地式 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,地礦,能源,電子
元素分析范圍 Al~U
產(chǎn)品類型:能量色散X熒光光譜分析設(shè)備
產(chǎn)品名稱:X射線金厚測試儀
型 號:iEDX-150WT
生 產(chǎn) 商:韓國ISP公司
亞太地區(qū)戰(zhàn)略合作伙伴:廣州鴻熙電子科技有限公司

X射線金厚測試儀iEDX-150WT

產(chǎn)品優(yōu)勢及特征

(一)產(chǎn)品優(yōu)勢

1. 鍍層檢測,,多鍍層檢測可達5層,,精度及穩(wěn)定性高(見以下產(chǎn)品特征詳述)。

2. 平臺尺寸:620*525mm,,樣品移動距離可達220*220*10mm,。(固定臺可選)

3. 激光定位和自動多點測量功能。

可檢測固體,、粉末狀態(tài)材料,。

運行及維護成本低、無易損易耗品,,對使用環(huán)境相對要求低,。

可進行未知標樣掃描、無標樣定性,,半定量分析,。

操作簡單、易學(xué)易懂,、無損,、高品質(zhì)、高性能,、高穩(wěn)定性,,快速出檢測結(jié)果,。

可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件。

軟件*升級,。

無損檢測,,一次性購買標樣可使用。

使用安心無憂,,售后服務(wù)響應(yīng)時間24H以內(nèi),,提供保姆式服務(wù)。

可以遠程操作,,解決客戶使用中的后顧之憂,。

可進行RoHS檢測(選配功能),測試RoHS指令中的鉛,、汞,、鎘、鉻,、鋇,、銻、硒,、砷等重金屬,,測試無鹵素指令中的溴、氯等有害元素,。亦可對成分進行分析,。

(二)產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)

計算機 / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器)。

Multi Ray. 運用基本參數(shù)(FP)軟件,,通過簡單的三步進行無標樣標定,,使用基礎(chǔ)參數(shù)計算方法,對樣品進行的鍍層厚度分析,。

可以增加RoHS檢測功能,。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析

勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線性模式進行薄鍍層厚度測量

相對(比)模式  無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時測量

測試能力(基本配置:PIN探測器+0.3準直器)

當(dāng)化金厚度在2u〞-5u〞時,測量時間為40S

準確度規(guī)格 ±5%

JQ度規(guī)格 <5%(COV變動率)

當(dāng)化金厚度 >5u〞時,,測量時間為40S

準確度規(guī)格 ±5%

JQ度規(guī)格<5%(COV變動率)

當(dāng)化銀厚度在5u〞-15u〞時,,測量時間為40S

準確度規(guī)格 ±8%

度規(guī)格 <7%(COV變動率)

測化錫時,測量時間為40S

準確度規(guī)格 ±8%

度規(guī)格 <6% (COV變動率)

準確度公式:準確度百分比=(測試10次的平均值-真值)/真值*100%

度COV公式: (S/10次平均值)*100%

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

完整的統(tǒng)計函數(shù)均值,、 標準差,、 低/高讀數(shù),趨勢線,,Cp 和 Cpk 因素等

自動移動平臺,,用戶使用預(yù)先設(shè)定好的程序進行自動樣品測量。大測量點數(shù)量 = 每9999 每個階段文件,。每個階段的文件有多 25 個不同應(yīng)用程序,。特殊工具如"線掃描"和"格柵",。每個階段文件包含*統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能,、方便加載函數(shù),、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能,。

金厚測試儀iEDX-150WT

X射線金厚測試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說明

u 測量原理:能量色散X射線分析

u 樣品類型:固體/粉末

u X射線光管:50KV,,1mA

u過濾器:5過濾器自動轉(zhuǎn)換

u檢測系統(tǒng):Pin探測器(可選SDD)

u能量分辨率:159eV(SDD:125eV)

u檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)

u準直器孔徑:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選)

u應(yīng)用程序語言:韓/英/中

u分析方法:FP/校準曲線,,吸收,,熒光

u儀器尺寸:840*613*385mm

u樣品移動距離:220*220*10 mm(自動臺)

1. X射線管:高穩(wěn)定性X光光管,使用壽命(工作時間>18,000小時)

微焦點X射線管,、Mo (鉬) 靶

鈹窗口,, 陽極焦斑尺寸75um,油絕緣,,氣冷式,,輻射安全電子管屏蔽。

50kV,,1mA,。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供性能。

探測器:SDD 探測器(可選Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

濾光片/可選

初級濾光片:Al濾光片,,自動切換

7個準直器:客戶可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器,。

(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )

平臺:軟件程序控制步進式電機驅(qū)動X-Y軸移動大樣品平臺。
激光定位,、簡易荷載大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量

樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定,、簡易荷載、激光定位及拍照功能

2. 分析譜線:

- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換)

- 基點改正(基線本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示

3.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭,、彩色視頻系統(tǒng)

- 觀察范圍:3mm x 3mm

- 放大倍數(shù):40X

- 照明方法:上照式

- 軟件控制取得高真圖像

4. 計算機,、打印機(贈送)

含計算機、顯示器,、打印機,、鍵盤、鼠標

含Win 7/Win 10系統(tǒng)

Multi-Ray鍍層分析軟件

注:設(shè)備需要配備穩(wěn)壓器,,需另計,。

 


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