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VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測模塊

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更新時(shí)間:2019-04-12 17:04:24瀏覽次數(shù):289

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VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測模塊,,microir PAT-W光譜儀是一種適用于近紅外(NIR)分析儀,用于按設(shè)計(jì)質(zhì)量(QbD)制造,。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固的,、可擴(kuò)展的下一代系統(tǒng),用于混合均勻性,、含量均勻性,、干燥損失、壓實(shí)等過程分析技術(shù)(PAT)應(yīng)用的實(shí)時(shí)過程監(jiān)測,??勺?yōu)V波器(LVF)技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)控儀表中具有小的形式因子,,是一種適合于實(shí)際應(yīng)用的設(shè)計(jì),。

詳細(xì)介紹

VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測模塊       VIAVIOCC-4056CDWDM光通道檢測模塊

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探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決,。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD)制造,。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量(QbD)制造,。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng),用于混合均勻性,、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤,。探針是專門設(shè)計(jì)的,,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決,。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨,、含量均勻性、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì),。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD)制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量(QbD)制造,。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng),,用于混合均勻性、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤,。探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決,。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD)制造,。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量(QbD)制造,。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng),用于混合均勻性,、含量均勻性,、技術(shù),PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì),。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤,。探針是專門設(shè)計(jì)的,以盡量減少或消除隨機(jī)散射效應(yīng)的發(fā)生,,傳統(tǒng)上在實(shí)驗(yàn)室儀器中使用積分球解決,。該平板探針的新穎光學(xué)消除隨、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì),。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤QbD)制造。該光譜儀PAT-W光譜儀是一種適質(zhì)量(QbD)制造,。該光譜儀是一個(gè)堅(jiān)固統(tǒng),,用于混合均勻性、含量均勻性,、技術(shù),,PAT-W在工業(yè)過程監(jiān)小的形式因用的設(shè)計(jì)。成為測試和測量行業(yè)高吞吐量的模塊化底盤,。

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