VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測(cè)試儀                              VIAVI MAP-230光學(xué)損耗測(cè)試儀

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MAP-200 具有直觀的,、經(jīng)過(guò)優(yōu)化的可互換虛擬儀器 (IVI) 驅(qū)動(dòng)程序，便于與常用的應(yīng)用程序開(kāi)發(fā)環(huán)境（例如 LabVIEW,、Visual C++,、Visual Basic 和 LabWindows™）配合使用，能夠?qū)δK和嵌入式儀器編程功能進(jìn)行*控制,。這些功能使測(cè)試程序員能夠集中精力開(kāi)發(fā)測(cè)試級(jí)別功能和序列,，而不用花費(fèi)精力來(lái)定義與 MAP 系統(tǒng)中的特定模塊通信所需的詳細(xì)信息。IVI 驅(qū)動(dòng)程序提供了使自動(dòng)化開(kāi)發(fā)人員能捕獲系統(tǒng)配置的仿真模式,，讓他們能夠脫機(jī)執(zhí)行大部分開(kāi)發(fā),，將硬件留出來(lái)用作其他用途。這些特性讓測(cè)試自動(dòng)化開(kāi)發(fā)和調(diào)試變得輕松快捷,。