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LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所

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更新時間:2024-05-20 17:15:46瀏覽次數(shù):1106

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 5千-1萬
應用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,農(nóng)林牧漁,能源,綜合    
LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所
雙膜測厚儀LZ-373
無損檢測設(shè)備
它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機身,,可測量非磁性金屬上絕緣膜的厚度,并且可以測量相對薄的厚度,,例如鋁礬土,。

LZ-373是一種雙類型膜厚計,可以測量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚,。它是處理各種材料和各種涂層的領(lǐng)域合適的膜厚計,。

詳細介紹

LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所

 

雙膜測厚儀LZ-373

 

雙膜測厚儀LZ-373無損檢測設(shè)備

  •  

它是一種緊湊且輕巧的緊湊型機身,可測量非磁性金屬上絕緣膜的厚度,,并且可以測量相對薄的厚度,,例如鋁礬土,。

LZ-373是一種雙類型膜厚計,可以測量磁性材料和非磁性金屬上的膜厚,。它是處理各種材料和各種涂層的領(lǐng)域合適的膜厚計,。

LZ-373雙膜測厚儀日本凱特科學研究所

特征

與傳統(tǒng)的膜厚計相比,數(shù)據(jù)存儲器和兼容標準有所增加,。

它是雙重類型。

這是一款袖珍型膜厚計,,具有電磁和渦流測量功能,。

配備有足夠的功能作為膜厚計。

配備有足夠的功能作為膜厚計,。

應用程序選擇,基準校正,數(shù)據(jù)刪除,,數(shù)據(jù)存儲器,,上下限設(shè)置,統(tǒng)計計算(測量計數(shù),,平均值,,標準偏差,大值,,小值),,顯示選擇,日期/時間,,自動關(guān)閉時間,,背光亮度可以根據(jù)需要設(shè)置16種功能,例如背光時間,,單位,,數(shù)據(jù)輸出,自動批次分類,,測量方法和維護模式,。

應用程序存儲器(校準曲線存儲器)功能。

電磁型和渦流型各有50種,,總共存儲了100種已調(diào)整的應用程序(校準曲線),,因此第二次即可進行相同的測量,而無需進行麻煩的調(diào)整,。即使關(guān)閉電源,,該存儲器也不會被擦除。

緊湊輕巧的機身,。

尺寸為寬75mm,,長145mm,,厚31mm,質(zhì)量340g,。由于尺寸可以一只手握住,,因此可以輕松地在測量現(xiàn)場使用。

測量原理

電磁法(磁性金屬上非磁性涂層的測量)

當交流電磁鐵接近鐵(磁性金屬)時,,進近距離會改變穿透線圈的磁通量,,從而改變線圈兩端的電壓。從電流值讀取該電壓變化,,并使用電磁膜厚計將其轉(zhuǎn)換為膜厚,,該膜厚計用于測量磁性金屬上的非磁性涂層。

渦流法(非磁性金屬上的絕緣膜的測定)

當具有恒定高頻電流的線圈靠近金屬時,,金屬表面會產(chǎn)生渦流,。該渦電流根據(jù)線圈和金屬表面之間的距離而改變,因此線圈兩端的電壓也改變,。渦流型膜厚計從電流值中讀取該變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚,,用于測量非磁性金屬上的絕緣膜。

測量對象的適用

基礎(chǔ)測量膜
鋼鐵鋁,,銅錫,,鉻,鋅,,襯里,,搪瓷,橡膠樹脂,,漆,,塑料等
鋁,銅,,黃銅等樹脂,,清漆,搪瓷,,塑料,,橡膠,鋁礬土(陽極氧化膜),,涂料等,。

屏幕顯示

屏幕顯示

經(jīng)常問的問題

可以測量鍍膜嗎?

規(guī)范

測量方式電磁感應式/渦流式
被測物
磁性金屬上的非 磁性涂層 磁性金屬上的絕緣涂層
測量范圍電磁感應類型:0至2500μm或99.0密耳
渦流類型:0至1200μm或47.0密耳
測量精度小于50μm:±1μm,,50μm或以上但小于1000μm:±2%
1000μm或以上:±3%
解析度小于100μm:0.1μm,,100μm或更大:1μm
符合標準電磁感應類型:JIS K5600-1-7,JIS H8501,,JIS H0401,,ISO 2808,,ISO 2064,ISO 1460,,ISO 2178,,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,ASTM D 7091-5,,ASTM E 376
渦流類型:JIS K5600-1-7,,JIS H8680-2,JIS H8501,,ISO 2808,,ISO 2360,ISO 2064,,ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM D 7091-5,,ASTM E 376
數(shù)據(jù)存儲器數(shù)約39,000點
校準曲線記憶應用存儲器:50電磁感應型,,50渦流型
附加功能應用程序選擇,,基礎(chǔ)校正,數(shù)據(jù)刪除,,數(shù)據(jù)存儲器,,上下限設(shè)置,統(tǒng)計計算(測量計數(shù),,平均值,,標準偏差,大值,,小值),,顯示選擇,日期/時間,,自動關(guān)閉時間,,背光亮度,背光時間,,單位,,數(shù)據(jù)輸出,自動批次分類,,測量方法,,維護方式
探測單點接觸恒壓型(LEP-J,LHP-J)
顯示方式數(shù)字(背光LCD 128 x 64點,,小顯示位數(shù)0.1μm)
外部輸出可以輸出到PC(USB或RS-232C)
電源供應電池1.5V(AA堿性)x 4
能量消耗80mW(背光關(guān)閉時)
電池壽命100小時(無背光,,連續(xù)使用)
工作環(huán)境溫度0-40°攝氏度
尺寸/質(zhì)量75(W)x 145(D)x 31(H)毫米,0.34千克

零件

  • 身體
  • 標準板x 5(50μm,,100μm,,300μm,,500μm,1000μm)
  • 零板支架(鐵基/非鐵基)
  • 鐵探針(LEP-J)
  • NFe探針(LHP-J)
  • 探頭適配器
  • 數(shù)據(jù)管理軟件(CD-R)
  • PC電纜(RS-232C)
  • RS-232C USB轉(zhuǎn)換器
  • 儲物箱
  • 說明書

 

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