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行業(yè)產(chǎn)品

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似空科學(xué)儀器(上海)有限公司>>商機(jī)中心>>供應(yīng)列表>>M-300-藍(lán)岸探針臺(tái)M系列
[供應(yīng)]M-300-藍(lán)岸探針臺(tái)M系列
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  • M-300-藍(lán)岸探針臺(tái)M系列
貨物所在地:
上海上海市
產(chǎn)地:
蘇州
更新時(shí)間:
2024-09-10 21:00:06
有效期:
2024年9月10日 -- 2025年3月10日
已獲點(diǎn)擊:
73
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(聯(lián)系我們,請(qǐng)說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,謝謝!)

產(chǎn)品簡介

掌握晶圓檢測核心技術(shù)——專注半導(dǎo)體探針測試領(lǐng)域

詳細(xì)介紹






LANANtek M系列探針臺(tái)


主要特點(diǎn)
可選配高溫測試環(huán)境
可選直筒顯微鏡,體式顯微鏡或金相顯微鏡
載物臺(tái)可Z軸升降
載物臺(tái)Theta可粗調(diào)360°,微調(diào)±7°
載物臺(tái)XY移動(dòng)分辨率為1um
可選配高壓高流測試環(huán)境
快速裝片并可任意位置鎖定功能
穩(wěn)定型顯微鏡橋架,移動(dòng)分辨率為2um,,顯微鏡氣動(dòng)升降
選配附件
射頻測試探頭及電纜
低漏電電流/電容測試
激光修復(fù)
探針卡/封裝/PCB 板夾具
有源探頭
高壓高流模塊
高清數(shù)字相機(jī)
●Hot Chuck
載物臺(tái)水平調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)
應(yīng)用領(lǐng)域
●Failure analysis 集成電路失效分析
●Wafer level reliability 晶元可靠性認(rèn)證
●Device characterization 元器件特性量測
●Process modeling 塑性過程測試(材料特性分析)
●IC Process monitoring 制成監(jiān)控
●Package part probing IC封裝階段打線品質(zhì)測試
●ESD&TDR testing ESDTDR測試
●Microwave probing 微波量測(高頻測試)
●Solar太陽能領(lǐng)域檢測分析
●LEDOLED,、LCD領(lǐng)域檢測分析
●PCB領(lǐng)域檢測分析
●VESEL DFB,COC,硅光等光電器件測試
兼容測試儀器
各種型號(hào)示波器
各品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀,,博測,是德,,泰克,,概倫等
各種品牌的網(wǎng)絡(luò)分析儀,是德,,羅德施瓦茨,,思儀等
各種品牌型號(hào)的源表



       







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