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宇航志達(dá)試驗(yàn)裝備（東莞市）有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品： 兩箱式高低溫沖擊箱,高低溫實(shí)驗(yàn)試驗(yàn)箱,恒定高低溫試驗(yàn)箱

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高低溫試驗(yàn)箱

冷熱沖擊試驗(yàn)箱

快速溫變?cè)囼?yàn)箱

高溫工業(yè)烤箱

鹽霧試驗(yàn)機(jī)

震動(dòng)臺(tái)系列

跌落試驗(yàn)機(jī)

淋雨試驗(yàn)箱

可編程恒溫恒濕試驗(yàn)箱

非標(biāo)步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室

電池測(cè)試試驗(yàn)機(jī)

甲醛試驗(yàn)箱

UV紫外線老化試驗(yàn)箱

高壓加速老化試驗(yàn)箱

拉力試驗(yàn)機(jī)

按鍵壽命測(cè)試類(lèi)

隧道爐

蒸汽老化試驗(yàn)箱

穩(wěn)態(tài)壽命加速度離心機(jī)

低氣壓試驗(yàn)箱

光衰老化試驗(yàn)箱

箱包震蕩臺(tái)

影像測(cè)量?jī)x

沙塵試驗(yàn)箱

恒溫恒濕稱(chēng)重系統(tǒng)

針焰試驗(yàn)機(jī)

恒溫?fù)u床

電池?zé)釠_擊試驗(yàn)箱

臭氧老化箱

三綜合試驗(yàn)箱

環(huán)境試驗(yàn)箱

稱(chēng)重系統(tǒng)

高反彈試驗(yàn)機(jī)

公司信息

聯(lián)系人：
王丹娜
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Y-HD-150L芯片測(cè)試小型高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕測(cè)試機(jī)
芯片測(cè)試小型高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕測(cè)試機(jī)
參考價(jià) ￥ 31500
訂貨量 1臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) Y-HD-150L
  • 品牌 宇航志達(dá)
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 東莞市

更新時(shí)間：2025-01-13 21:23:44瀏覽次數(shù)：1331

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【簡(jiǎn)單介紹】
產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 2萬(wàn)-5萬(wàn)
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,建材,電子,航天,汽車(chē)
芯片測(cè)試小型高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕測(cè)試機(jī)適于儀器儀表,，化工,、生物,，醫(yī)藥等產(chǎn)品進(jìn)行高溫,，低溫環(huán)境下的性能測(cè)試,，篩選或考核試驗(yàn),，恒溫恒濕測(cè)試箱是對(duì)產(chǎn)品研制過(guò)程中進(jìn)行高低溫環(huán)境測(cè)試或試驗(yàn),。
【詳細(xì)說(shuō)明】
　　芯片測(cè)試小型高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕測(cè)試機(jī)適用于電工,、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫環(huán)境下貯存,、運(yùn)輸,、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)；是各類(lèi)電子,、電工,、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒,、耐熱,、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測(cè)試設(shè)備；特別適用于光纖,、LED,、晶體、電感,、PCB,、電池、電腦,、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫,、耐低溫、循環(huán)試驗(yàn),。
 
　芯片測(cè)試小型高低溫試驗(yàn)箱恒溫恒濕測(cè)試機(jī)規(guī)格參數(shù)
　　1.內(nèi)部尺寸（W×H×D）50×60×50cm
　　2.外部尺寸：（W×H×D）110×146×127cm
　　3.溫度范圍：-20℃～+150℃
　　4.濕度范圍：20%～98%RH
　　5.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
　　6.濕度波動(dòng)度：≤ ±3.0%RH
　　7.溫度均勻度：≤±2.0℃
　　8.濕度均勻度：≤ ±2.5%RH
　　9.溫度**度：0.01
　　10.濕度**度：0.1
　　11.升溫速度：約5.2℃/分鐘
　　12.降溫速度：約1.2℃/分鐘
 
　　高低溫試驗(yàn)箱滿足標(biāo)準(zhǔn)：
　　GB/T2423.1～2《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn),。A：低溫試驗(yàn)方法、試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法》.
　　執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：
　　1.GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；
　　2.GB/T10592-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,；
　　3.GB/T2423.4-93（MIL-STD810）方法507.2程序3；
　　4.GB2423.1低溫試驗(yàn),、試驗(yàn)A
　　5.GB2423.2高溫試驗(yàn),、試驗(yàn)B. GB/T2423.34-2005高、低,、溫度組合循環(huán)試驗(yàn),。
<strong><strong>可編程高低溫箱</strong></strong>


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