產(chǎn)品簡介
各種材料/構(gòu)件表面,、斷口微觀形貌觀察;
能譜成分半定量分析(原子序數(shù)Z≥11),;
有機物成分紅外光譜定性檢測,;
詳細介紹
失效分析服務(wù)
失效分析實驗室擁有場發(fā)射掃描電子顯微鏡、X射線能譜儀,、紅外光譜儀,、便攜式金相顯微鏡以及樣品處理設(shè)備(噴金設(shè)備、超聲波清洗儀等)等,,依托中心的力學(xué)性能,、化學(xué)分析、金相分析,、無損檢測等檢測能力,,可面向材料及結(jié)構(gòu)(包括金屬材料、非金屬材料,、復(fù)合材料,、緊固件等)開展系統(tǒng)的失效分析工作,包括缺陷分析,、裂紋分析,、斷裂失效分析、環(huán)境介質(zhì)作用下的失效分析,、磨損失效分析等,,同時可針對航天器表面的有機/無機污染物、多余物成分進行快速分析檢測,,通過失效分析工作為查找失效原因,,發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品薄弱環(huán)節(jié),為型號產(chǎn)品質(zhì)量歸零,、產(chǎn)品工藝過程改進提供技術(shù)依據(jù),。
實驗室擁有一批專業(yè)的失效分析人員,現(xiàn)有獲得資質(zhì)認定的高級失效分析師2人,,中級失效分析師3人,,多年來面向院內(nèi)各型號開展了百余起失效分析工作,積累了豐富的失效分析經(jīng)驗,。
可提供的失效分析服務(wù):
- 各種材料/構(gòu)件表面,、斷口微觀形貌觀察;
- 能譜成分半定量分析(原子序數(shù)Z≥11),;
- 有機物成分紅外光譜定性檢測,;
- 高分子材料的結(jié)構(gòu)分析,;
- 材料及結(jié)構(gòu)斷口分析;
- 材料及結(jié)構(gòu)缺陷分析,;
- 材料及結(jié)構(gòu)裂紋分析,;
- 材料及結(jié)構(gòu)磨損失效分析
- 材料及結(jié)構(gòu)環(huán)境介質(zhì)作用下的失效分析;
- 航天器表面污染物/多余物成分分析,。
儀器設(shè)備
1,、場發(fā)射掃描電子顯微鏡
功能:微觀形貌觀察
參數(shù):
a. 分辨率:0.8 nm 在30 kV (STEM)
1.0 nm 在 15 kV,WD = 2 mm
1.7 nm 在 1 kV,,WD = 2 mm
b .加速電壓0.1 – 30 kV,,以10 V為一級連續(xù)可變
c. 探針電流穩(wěn)定度優(yōu)于0.2%/h
d. 放大倍數(shù)范圍:12 – 1,000,000 x,以粗調(diào)或細調(diào)方式連續(xù)可變,。
e. 樣品臺行程:X = 130 mm
Y = 130 mm
Z = 50 mm
T = -3?到70?
R = 360?連續(xù)
f. 探頭包括CCD,、SE、ASB,、In-lens四種探頭
g. 附件包括:K550X濺射儀,、超聲波清洗儀
2、X射線能譜儀:
功能:元素成分半定量檢測(僅針對原子序數(shù)Z≥11的元素)
參數(shù):
a. 制冷方式:液氮制冷,;
b .能譜儀分辨率:優(yōu)于129 eV,;
c. 1000~40000CPS平均元素定量誤差小于0.5%;
d.能譜儀峰漂移:Mn Kα峰譜峰漂移小于1eV,;
3,、便攜式金相顯微鏡
功能:金相組織的觀察
參數(shù):
0~30倍連續(xù)觀察;
200倍,、500倍高倍觀察,;
4、傅立葉紅外光譜儀
功能:可用于研究分子結(jié)構(gòu)和化學(xué)鍵,,可以作為表征和鑒別有機材料類別
參數(shù):
a. 光譜范圍:400-4000cm-1;,;
b .光譜分辨率:0.4-64 cm-1;
c. 附件:透射,、衰減全反射,;
d. 樣品類型:固體、液體,、粉末,;