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這些關(guān)于三維表面形貌測量儀的應(yīng)用資料,，您掌握了嗎？
三維表面形貌測量儀采用了上等光學(xué)系統(tǒng),可通過非破壞觀察法生產(chǎn)高畫質(zhì)的圖像并進(jìn)行3D測量,，可以滿足不同樣品的觀測需求,。本產(chǎn)品是用于表面結(jié)構(gòu)測量和表面形貌分析的一款檢測設(shè)備，測量精度重復(fù)性達(dá)到世界較高水平,；關(guān)鍵硬件采用美國、德國,、日本等,；配備進(jìn)口第三方校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)件，高性價比微觀形貌測量設(shè)備,。
應(yīng)用：
三維表面形貌測量儀用來測量表面物理形貌,，進(jìn)行微納米尺度的三維形貌分析,，如3D表面形貌、2D的縱深形貌,、輪廓,、表面粗糙度等；
1,、精密部件：檢測對表面磨損,，表面粗糙度，表面微結(jié)構(gòu)有要求的零部件,，比如發(fā)動機汽缸,、刀口等；
2,、生命科學(xué)：測量stents支架上鍍層厚度等,；
3、微電子機械系統(tǒng)：微型器件的檢測,，醫(yī)藥工程中組織結(jié)構(gòu)的檢測,，如基因芯片等；
4,、半導(dǎo)體：檢測微型電子系統(tǒng),，封裝及輔助產(chǎn)品結(jié)構(gòu)設(shè)計；
5,、太陽能：太陽能電池片柵線的3D形貌表征,、高寬比測量，制絨后3D形貌表征,，粗糙度分析等,；
6、紙張：紙張,、錢幣表面三維形貌測量,；
7、LED：用于藍(lán)寶石襯底的測量,，抽檢PSS ICP后的WAFER的3D形貌,。
產(chǎn)品特性：
1、采用白光共聚焦色差技術(shù),，可獲得納米級的分辨,；
2、測量具有非破壞性,，測量速度快,，精確度高；
3、測量范圍廣,，可測透明,、金屬材料，半透明,、高漫反射,，低反射率、拋光,、粗糙材料,；
4、尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面,；
5,、不受樣品反射率的影響；
6,、不受環(huán)境光的影響,；
7、測量簡單,，樣品無需特殊處理,。