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熒光光譜儀原理
閱讀：1669 發(fā)布時(shí)間：2019-4-12
X射線光譜儀(rohs檢測(cè)儀)通常可分為兩大類(lèi),，波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長(zhǎng)色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源,、分光晶體和測(cè)角儀,、探測(cè)器等，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測(cè)器和相關(guān)電子與控制部件,，相對(duì)簡(jiǎn)單,。
波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律,，通過(guò)測(cè)定角度,，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng),；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角,；n為衍射級(jí)次,。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng),，從而獲得待測(cè)元素的特征信息,。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量,，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中,，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量,；k為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特征信息,。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,，除光譜儀外,，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理