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熒光光譜儀原理
閱讀：1875 發(fā)布時間：2019-4-12
X射線光譜儀(rohs檢測儀)通?？煞譃閮纱箢悾ㄩL色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),，波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,，而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件，相對簡單,。
波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度,，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)
式中 ,，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距,；θ為衍射角,；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角,，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長,，從而獲得待測元素的特征信息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量,，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=kE
式中,，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量,；k為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù),。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特征信息,。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得,。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息,，除光譜儀外,，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理