德國布魯克DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）可以提供更高的重復性和分辨率,，測量重復性可以到5?。臺階儀這項性能的到了過去四十年Dektak技術,，更加鞏固了其行業(yè),。不論應用于研發(fā)還是產品測量，通過在研究工作中的廣泛使用,，DektakXT能夠做到功能更強大,，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善,。第十代DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術,，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應用于微電子器件,，半導體,，電池，高亮度發(fā)光二管的研發(fā)以及材料科學領域,。

  臺階儀DektakXT能實現(xiàn)：

  1,、 使用溫度條件：10-30℃；

  2,、很好的性能,，臺階高度重現(xiàn)性低于4埃

  3,、Single-arch設計提供掃描穩(wěn)定性

  4,、的“智能電子器件"設立了新低噪音基準

  5、新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時間縮短

  6,、64-bit,，Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件，使數(shù)據(jù)分析速度高了10倍

  7,、頻率,，操作簡易

  8、直觀的Vision64用戶界面,，操作簡易

  9,、針尖自動校準系統(tǒng)

  10,、布魯克（Bruker）以實惠的配置實現(xiàn)高的性能

  11、單傳感器設計,，提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

     建立在40多年的探針輪廓技術的知識和經驗薄膜測試儀,，在基于微處理器的輪廓儀，和300mm自動輪廓儀DektakXT繼承了以往的,。新的DektakXT是single-arch設計的探針輪廓儀,，內置真彩高清光學攝像機，及安裝64-bit并行處理架構已獲得測量及操作效率的探針輪廓儀

當需要臺階高度,、表面粗糙度,、測量時，人們就會借助Dektak,。引進DektakXT,，Bruker能讓您進一步獲得表面測量

數(shù)據(jù)采集和分析速度
 直接驅動掃描平臺，Dektak XT減少了掃描間的時間,，而沒有影響分辨率和背景噪聲,。這一改進大范圍掃描3D形貌或者對于表面應力長程掃描（就探針輪廓儀而言，通常是耗時的）的掃描速度,。在行業(yè)的質量和重現(xiàn)性前提下,，DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度。另外,，DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64,，它可以大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度，并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析,。Vision64還具有行業(yè)內的直觀用戶界面,，簡化了實驗操作設置，自動完成多掃描模式,，讓重復和常規(guī)的實驗操作變得更快速簡潔,。