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布魯克AFM原子力顯微鏡探針 SCANASYST-FLUID+
布魯克AFM探針
作為一家能夠提供AFM/SPM儀器和AFM/SPM探針的企業(yè),，布魯克公司深刻理解每個單獨的組件對于一整套性能AFM系統(tǒng)的價值,。布魯克公司以的生產(chǎn)工藝，專業(yè)的AFM領(lǐng)域背景,，得天獨厚的生產(chǎn)裝備,，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢，確保在應用領(lǐng)域中提供完整的AFM解決方案,。
布魯克AFM探針制造優(yōu)勢：
· Class100級別的無塵室
· 專業(yè)的設(shè)計,、制造工序及制造工具
· 探針設(shè)計團隊與AFM設(shè)備研發(fā)團隊通力合作,，配合緊密
· 訓練有素的生產(chǎn)團隊，能夠制造出各種型號的探針
· 質(zhì)量管理體系,，確保探針性能
在實驗中,，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復性。布魯克的探針具有嚴格的納米加工控制,，的質(zhì)量測試,，和AFM領(lǐng)域的專業(yè)背景。所以用戶盡可放心,，我們的探針不僅為您當前的應用提供所需的結(jié)果，同時也能為將來的研究提供參考數(shù)據(jù),。
原子力顯微鏡探針(AFM探針)常用型號一覽
| 材料樣品 | |||
| 大氣環(huán)境 | 液下環(huán)境 | ||
| 智能成像 | 高分辨 | SCANASYST-AIR SCANASYST-AIR-HPI | SCANASYST-FLUID+ SNL-10 |
| 一般成像 | DNP-10 | SCANASYST-FLUID DNP-10 | |
| 輕敲模式 | 較軟樣品/相位成像 | OLTESPA-R3 , RFESPA-75 | SNL-10 , DNP-10 |
| 一般樣品 | TESPA-V2 , RTESPA-300 | SNL-10 , DNP-10 | |
| 快速掃描 | FASTSCAN-A | FASTSCAN-B,，F(xiàn)ASTSCAN-C | |
| 接觸模式 | 一般成像 | SNL-10 ,DNP-10 , MLCT | SNL-10 ,DNP-10 , MLCT |
| 摩擦力顯微鏡 | ORC8-10, SNL-10， DNP-10 | ORC8-10, SNL-10,， DNP-10 | |
| 電磁學測量 | |
| 靜電力顯微鏡 | MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PIT-V2 |
| 磁力顯微鏡 | MESP-RC-V2, MESP-V2 |
| 表面電勢測量 | PFQNE-AL, MESP-RC-V2, MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PIT-V2 |
| 導電原子力／隧穿原子力 | MESP-RC-V2 , MESP-V2, SCM-PtSi, OSCM- PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 |
| 峰值力隧穿原子力顯微鏡 | PFTUNA, MESP-RC-V2, MESP-V2, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 |
| 掃描電容顯微鏡 | OSCM-PT-R3, SCM-PIC-V2, SCM-PIT-V2 |
| 掃描擴散電阻顯微鏡 | SSRM-DIA, DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , OSCM-PT-R3, SCM-PtSi , SCM-PIT-V2 |
| 壓電力響應顯微鏡 | DDESP-V2 , DDESP-FM-V2 , MESP-RC-V2 , MESP-V2, OSCM-PT-R3, SCM-PtSi, SCM-PIT-V2 |
| 生物樣品 | ||
| 生物小分子 | 一般成像 | MLCT, DNP, DNP-S |
| 高分辨 | SNL-10, Fastscan-D, AC40 | |
| 細胞 | 一般成像 | MLCT, DNP-10 |
| 力學測量 | MLCT, DNP-10, ScanAsyst-Fluid, PFQNM-LC | |
| 探針修飾 | 修飾小球 | NP-O10 |
| 修飾分子 | NPG-10 | |
| 力學測量 | ||
| 楊氏模量(E) | 探針類型 | 彈性常數(shù)(K) |
| 1 Mpa | SNL-10; SCANASYST-AIR | 0.5N/m |
| 1 Mpa | SAA-HPl-30 | 0.25N/m |
| 5 Mpa | AD-2.8-AS ; AD-2.8-SS | 2.8N/m |
| RTESPA-150 | 5NIm | |
| 10 Mpa | RTESPA-150-30 | 5NIm |
| 200 Mpa | AD-40-AS ; AD-40-SS | 40N/m |
| RTESPA-300 | 40N/m | |
| 100 Mpa | RTESPA-300-30 | 40N/m |
| 1 Gpa | RTESPA-525 ; RTESPA-525-30 | 200N/m |
| 10 Gpa | DNISP-HS ; PDNISP-HS | 450N/m |
| 用于高分辨成像的超尖探針 | ||
| Dimension Icon | 大氣環(huán)境 | ScanAsyst-Air-HPI, PeakForce-HiRs-SSB |
| 液下環(huán)境 | PeakForce-HiRs-F-B | |
| Dimension Fastscan | 大氣環(huán)境 | PeakForce-HiRs-SSB*, PeakForce-HiRs-F-A |
| 液下環(huán)境 | Fastscan-D-SS | |
*setpoint need to be around 100pN
