AFM配件,，原子力探針,，AFM探針，原子力探針針尖,，顯微鏡探針針尖,，原子力針尖，原子力顯微鏡探針針尖,，接觸探針,，納米壓痕探針，氮化硅探針,，硅探針,，熱探針，超尖探針,，電子探針,，顯微鏡針尖，原子力顯微鏡針尖,，輕巧模式探針,，AFM針尖，接觸式探針,，磁性探針,，導(dǎo)電探針，顯微鏡探針,，探針,，布魯克探針,，原子力探針,，BRUKER PROBE,，AFM PROBE，BRUKER探針,，原子力顯微鏡探針,，AFM探針，VEECO探針

作為一家能夠提供AFM/SPM儀器和AFM/SPM探針的企業(yè),，布魯克公司深刻理解每個(gè)單獨(dú)的組件對(duì)于一整套性能AFM系統(tǒng)的價(jià)值,。布魯克公司以的生產(chǎn)工藝，專(zhuān)業(yè)的AFM領(lǐng)域背景,，得天獨(dú)厚的生產(chǎn)裝備,，賦予探針制造眾多的優(yōu)勢(shì)，確保在應(yīng)用領(lǐng)域中提供完整的AFM解決方案,。

布魯克AFM探針制造優(yōu)勢(shì)：

*Class100級(jí)別的無(wú)塵室

*的設(shè)計(jì),、制造工序及制造工具

*探針設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)與AFM設(shè)備研發(fā)團(tuán)隊(duì)通力合作，配合緊密

*訓(xùn)練有素的生產(chǎn)團(tuán)隊(duì),，制造出各種型號(hào)的探針

*的質(zhì)量管理體系,，確保探針性能行業(yè)

在實(shí)驗(yàn)中，用戶所得到的數(shù)據(jù)取決于探針的質(zhì)量及探針的重復(fù)性,。布魯克的探針具有嚴(yán)格的納米加工控制,，的質(zhì)量測(cè)試，和AFM領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)背景,。所以用戶盡可放心,，我們的探針不為您當(dāng)前的應(yīng)用提供所需的結(jié)果，同時(shí)也能為將來(lái)的研究提供參考數(shù)據(jù),。

MicroLever系列

布魯克MicroLever系列的探針具有軟的氮化硅懸臂,，氮化硅針尖；是接觸模式,，力調(diào)制模式及液態(tài)操作的理想之選,。探針懸臂的力常數(shù)的范圍較寬，用戶既可以在柔軟的樣品上使用接觸模式成像,，也可以使用較大的力來(lái)做載荷-距離的力曲線譜,。每顆非套裝的探針?lè)謩e有6個(gè)不同的懸臂，形狀各不相同,，所以每個(gè)懸臂的力常數(shù)值及共振頻率也不一樣,。的懸臂都有<2°的懸臂彎曲。