用于大件樣品和多層膜樣品的非破壞分析

       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析,。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）-92號(hào)（鈾）中的元素,。分析的樣品類(lèi)型：各種不同材料，如金屬,、合金,、塊體、溶液等,。

       480×490×200mm³的大腔體支持更大樣品的測(cè)量,。自動(dòng)X-Y-Z軸程控樣品臺(tái)，大移動(dòng)范圍200×175×80mm,，支持自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量,。

       M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺(tái)式 μ-XRF 光譜儀，用于分析塊狀材料和涂層,。它的操作速度快,、成本效益， 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息,。測(cè)定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe,、Ag-Cu、Au-Ni-Cu,、Cr-Ni-Cu,、Au-Pb-Ni-Cu

珠寶及合金分析：
       M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具,。珠寶合金,、鉑族金屬及銀制品,、不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K（開(kāi)）表示
       M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀,，可對(duì)大件樣品和鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析,。分析的元素范圍：原子序數(shù)22號(hào)（鈦）以上的元素。分析的樣品類(lèi)型：各類(lèi)不同的材料,，如金屬,、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
       樣品尺寸大可達(dá)100×100×100mm,，無(wú)需處理,，直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。
光管位于樣品上方,，測(cè)量過(guò)程中部接觸樣品,，因此可以很容易地分析復(fù)雜式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶和不容厚度的樣品,。

各種應(yīng)用介紹：

·  通用金屬分析

M1 MISTRAL是通用金屬鍍層分析的理想工具，對(duì)緊固件,、五金材料,、汽車(chē)零部件鍍層的機(jī)械部件都能進(jìn)行準(zhǔn)確、便捷的分析,。
·  電子/PCB
采用X-Ray熒光技術(shù)的M1 MISTRAL也可分析薄鍍層樣品,，如印刷電路板、引線框架,、圓晶,、連接器等，M2 BLIZZARD采用開(kāi)放腔體,，可對(duì)大型電路板進(jìn)行測(cè)量,。

·  珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶。硬幣及貴金屬的理想分析工具,。珠寶合金,，30S就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K（開(kāi)）表示,。