痕量分析 TXRF 光譜儀
       快速多元素痕量分析可對固體,、粉末、液體,、懸浮物,、過濾物、大氣飄塵,、薄膜樣品等進行定性,、定量分析，元素范圍13Al-92U,，檢出限到2pg,。 
       需要樣品量少，液體及懸浮物樣品1-50微升,，粉末樣品10微克以內,。 
        便攜式全反射熒光儀，設備小巧,，一體化結構設計，不需要任何輔助設備及氣體,、液氮等,，可拿到現(xiàn)場進行分析。 
       1位及25位全自動進樣器兩款設計,，分別適用于每天有少量樣品及大批量樣品的全自動分析,。 
       第四代XFlash®SDD硅漂移探測器，采用帕爾貼冷卻技術,，不需要液氮,，沒有任何消耗。分辨率優(yōu)于160eV at MnKa 100Kcps,。 
       由于全反射無背景,，熒光強度與元素含量直接成正比。標準曲線工廠已校準好,，用戶不需要標樣就可以進行定量分析,。
 

行業(yè)應用：

水、廢水,、土壤中的污染元素,；血液、尿液、組織中的有毒元素,；食品,、醫(yī)藥、刑偵,、環(huán)保,、陶瓷、水泥,、建材,、地質等領域。