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鉑悅儀器(上海)有限公司

鉑悅儀器檢測(cè)服務(wù)介紹

時(shí)間:2023-8-23 閱讀:400
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鉑悅檢測(cè)新聞圖片1.JPG


01快速材料成份分析
Rapid Material Composition Analysis

1.  牌號(hào)分析,牌號(hào)鑒定及合金化學(xué)成分分析,。

2.  貴金屬分析,,僅需幾秒即可分析錢幣,、首飾和其他貴金屬含量,,各種貴金屬快速分析Au、Ag,、Pt,、Rh、Pd等,。

3.  土壤重金屬分析,。快速測(cè)定重金屬As,、Cd,、Cr,、Cu,、Pb、Hg,、Ni,、Zn等。

4.  礦石分析,,快速分析礦石品位,,進(jìn)行礦石評(píng)定,品位控制,、巖芯檢測(cè),、礦脈分析、繪制礦石分析圖,。適用于地質(zhì)勘探,、礦山開采,、礦產(chǎn)貿(mào)易、環(huán)境監(jiān)測(cè),,包含Geo Exploration和Geo Mining,。

5.  化妝品分析,可分析化妝品中重金屬(Hg,、Pb,、As等)。

6.  藝術(shù)考古分析,針對(duì)陶瓷,,玉器,,金銀器,青銅器,,壁畫,,字畫等成分含量分析。

 

02野外現(xiàn)場(chǎng)分析測(cè)試
Field analysis and testing

 

1.  牌號(hào)分析,,牌號(hào)鑒定及合金化學(xué)成分分析,。

2.  貴金屬分析,僅需幾秒即可分析錢幣,、首飾和其他貴金屬含量,,各種貴金屬快速分析Au、Ag,、Pt,、Rh、Pd等,。

3.  土壤重金屬分析,。快速測(cè)定重金屬As,、Cd,、Cr、Cu,、Pb,、Hg、Ni,、Zn等,。

4.  礦石分析,快速分析礦石品位,,進(jìn)行礦石評(píng)定,,品位控制、巖芯檢測(cè)、礦脈分析,、繪制礦石分析圖,。適用于地質(zhì)勘探、礦山開采,、礦產(chǎn)貿(mào)易,、環(huán)境監(jiān)測(cè),包含Geo Exploration和Geo Mining,。

5.  化妝品分析,,可分析化妝品中重金屬(Hg、Pb,、As等),。

6.  藝術(shù)考古分析,歷史遺產(chǎn)保護(hù)等行業(yè),包括陶瓷,,玉器,,金銀器,青銅器,,建筑,,家具,裝飾品,,雕塑,,字畫,油畫,,壁畫等成分含量分析,。

鉑悅檢測(cè)新聞圖片2.JPG


03材料成份分析(定性/定量)
Material composition analysis (qualitative/quantitative)

1.  有色金屬成份分析。

2.  黑色金屬成份分析,。

3.  金屬雜質(zhì)溯源:直讀光譜儀可對(duì)約70種元素(金屬元素及磷,、硅、砷,、碳,、硼、氮,、氧等非金屬元素)進(jìn)行分析,。在一般情況下,,用于1%以下含量的成份測(cè)定,,檢出限可達(dá)ppm。廣泛應(yīng)用于鑄造,,鋼鐵,,金屬回收和冶煉以及航天航空、電力、化工,、高等院校和商檢,、質(zhì)檢等單位,可分析材質(zhì):Fe,、Al,、Cu、Ni,、Co,、Ti、Zn,、Mg,、Pb、Sn等基體,。       手持光譜儀可檢測(cè)干燥食品以及食品原材料的分析,,同樣適應(yīng)于食品加工行業(yè)金屬溯源分析。

 

04 | 痕量元素分析(成分/分布)
Trace element analysis (composition/distribution)

鉑悅檢測(cè)新聞圖片4.png

1.  環(huán)境檢測(cè):全反射XRF可用于土壤,、污水中重金屬污染物的分析,,制樣 簡(jiǎn)單,無(wú)需消解,,檢出限低至 ppb 級(jí),。

2.  體液分析:TXRF可用于對(duì)血液、血清,、尿 液等體液中微量元素分析,,僅需要少量樣品即可準(zhǔn)確定量分析。

3.  食品飲料:TXRF可用于食品,、飲料中微 量營(yíng)養(yǎng)元素定量分析,,液體樣 品可直接分析,固體樣品只需簡(jiǎn)單研磨,。

4.  環(huán)保:土壤,,污泥;飲用水,、鹽湖水,、污水、大氣飄塵,。

5.  地礦:礦石,、螢石、長(zhǎng)石,、氧化鋅等,。

6.  冶金:鎂電解液純金中雜質(zhì)元素。

7.  生物醫(yī)療:中草藥,人體組織,,體液,,頭發(fā)和指甲中的痕量元素。

8.  法檢:撞車現(xiàn)場(chǎng)樣品鑒定,,開槍距離判定等,。

9.  材料:玻璃,高純石英雜質(zhì)含量,,晶元體的污染等,。

 

05大面積元素分析成像
Large area elemental analysis imaging

鉑悅檢測(cè)新聞圖片6.JPG

1.  藝術(shù)考古:

古陶瓷、青銅,、珠寶玉石,、國(guó)外硬幣、古錢幣,、古代金屬刀具,、古畫等。

2.  地質(zhì)礦石:

巖石薄片檢測(cè),、識(shí)別巖石礦石的結(jié)構(gòu)構(gòu)造,、化石、鉆孔巖芯檢測(cè),、巖石樣品定量分析等,。

3.  材料科學(xué):

鋰電池異物分析、太陽(yáng)能電池,、能源電池,、材料基因、輪胎工藝研究,、混凝土腐蝕研究,、混凝土中CI離子的遷移、3D打印材料等,。

4.  生物醫(yī)藥:

假肢,、人工韌帶、軟組織異位骨化,、惡性腫瘤細(xì)胞檢測(cè),、毒理學(xué)(納米)、水凝膠質(zhì)檢,、新藥劑的研發(fā)等,。

5.  環(huán)境植物:

植物葉片元素定性檢測(cè)、植物營(yíng)養(yǎng)研究,、水稻節(jié)點(diǎn)微量元素分布,、小麥籽粒中元素分布、植物對(duì)磷元素的吸收,、植物土壤修復(fù)等,。

6.  刑偵:

檢彈殘留物、土壤物源分析,、油墨分析,、商標(biāo)直偽鑒定、玻璃碎片分析,、指紋分析,、頭發(fā)樣品的檢測(cè)等。

 

06材料表面/形貌分析
Material surface/Morphology analysis

鉑悅檢測(cè)新聞圖片7.png

  1. 晶片應(yīng)用:

    - 沉積薄膜(金屬,、有機(jī)物)的臺(tái)階高度

    - 抗蝕劑(軟膜材料)的臺(tái)階高度

    - 蝕刻速率測(cè)定

    - 化學(xué)機(jī)械拋光(腐蝕,,凹陷,彎曲)

     

  2. 大型基板應(yīng)用:

    - 印刷電路板(凸起,、臺(tái)階高度)

    – 窗口涂層

    – 晶片掩模

    – 晶片卡盤涂料

    – 拋光板

     

  3. 玻璃基板及顯示器應(yīng)用:

    – AMOLED

    – 液晶屏研發(fā)的臺(tái)階步級(jí)高度測(cè)量

    – 觸控面板薄膜厚度測(cè)量

    – 太陽(yáng)能涂層薄膜測(cè)量

     

  4. 柔性電子器件薄膜:

    – 有機(jī)光電探測(cè)器

    – 印于薄膜和玻璃上的有機(jī)薄膜

    – 觸摸屏銅跡線

 

07自由基檢測(cè)
Free radical detection

1.  氮氧化物監(jiān)測(cè),,活性氧,氧化應(yīng)激,、光動(dòng)力學(xué),。

2.  污染物中的自由基。

3.  血氧測(cè)定,、膜的流動(dòng)性,、微環(huán)境中的pH值、粘度,、相位分離新鮮性,。

4.  食品的抗氧化性能、輻射誘導(dǎo)產(chǎn)生的自由基,、產(chǎn)品的長(zhǎng)期穩(wěn)定性,、雜質(zhì)分析。

5.  丙氨酸劑量測(cè)定(片與薄膜),。

6.  生物無(wú)機(jī)過(guò)渡金屬化合物,、芬頓反應(yīng)、重金屬離子對(duì)組織的影響,。

7.  活性聚合物,、紫外輻射穩(wěn)定性、溫度穩(wěn)定性,。

8.  防自由基效用,、乳霜和洗發(fā)水等的紫外線防護(hù)質(zhì)量。

 

 

 

 

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