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Micro-XRF在刑偵領(lǐng)域的應(yīng)用
微區(qū)X射線熒光成像光譜儀可針對(duì)非均勻或形狀不規(guī)則樣品進(jìn)行元素定性,、定量分析。其測(cè)量結(jié)果能夠給出樣品成分和表面相關(guān)元素的分布情況,,甚至樣品表面下元素分布信息,。BRUKER微區(qū)X射線熒光光譜儀經(jīng)過(guò)優(yōu)化,能夠?qū)腆w,,液態(tài),,微小顆粒物等多種類(lèi)型樣品進(jìn)行點(diǎn)、線和二維區(qū)域掃描(Mapping)快速成像,、定量分析,。
M4 TORNADO / M4 TORNADO PLUS,可對(duì)樣品直接進(jìn)行無(wú)損分析,,無(wú)需制備樣品,。基于上述優(yōu)點(diǎn),,使得其在刑偵舉證領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用,。例如,射擊殘留物檢測(cè),,筆跡紙張檢測(cè),,現(xiàn)場(chǎng)玻璃碎片定量分析,血跡殘留,,防偽標(biāo)識(shí)快速鑒別,,指紋殘留鑒定等。
玻璃碎片快速鑒別
微區(qū)XRF熒光分析作為一種無(wú)損元素分析工具,,非常適合法醫(yī)刑偵樣品的檢測(cè),。該技術(shù)可同時(shí)檢測(cè)樣品的多種元素,從主量元素到微量元素,,可在任意環(huán)境條件對(duì)樣品進(jìn)行無(wú)損分析,。M4 TORNADO 整合了一套強(qiáng)大分析功能,,可在微米尺度內(nèi)對(duì)樣品的元素分布情況定性以及定量分析。根據(jù) ASTM E2926相關(guān)規(guī)范,,可以對(duì)玻璃碎片進(jìn)行定量或半定量分析,。
案發(fā)現(xiàn)場(chǎng)玻璃碎片光學(xué)照片(左)、面掃描可快速區(qū)分不同成分玻璃碎片(中),、標(biāo)準(zhǔn)玻璃樣品碎片定量分析結(jié)果比對(duì)標(biāo)準(zhǔn)值(右)
案發(fā)現(xiàn)場(chǎng)汽車(chē)油漆層殘留碎屑
通在交通事故等案發(fā)現(xiàn)場(chǎng),,將收集到的汽車(chē)油漆層碎片與汽車(chē)制造商已知的成分進(jìn)行比較,從而幫助刑偵專家確定案發(fā)現(xiàn)場(chǎng)車(chē)輛型號(hào)等相關(guān)信息,。
汽車(chē)油漆層截面光學(xué)照片以及面掃描結(jié)果(左),,各層主要成分(中),各層主要元素含量變化情況(右)
指紋殘留分析
在現(xiàn)場(chǎng)過(guò)程中,,指紋是一項(xiàng)重要的證據(jù),,確認(rèn)直接的方法。微區(qū)XRF可通過(guò)檢測(cè)無(wú)機(jī)成分,,如K, Cl, Ca, S等獲得指紋的殘留信息,,因此不受黑暗或多色背景的阻礙,不依賴皮脂或其它有機(jī)物,,尤其適用于那些難以恢復(fù)的指紋的可視化分析(如火災(zāi)后有機(jī)成分*揮發(fā)),。
模擬現(xiàn)場(chǎng)殘留指紋光學(xué)照片(左)、在高溫加熱后,、深色背景下M4面掃描仍能清晰識(shí)別殘留指紋(中),、指紋以及背景光譜對(duì)比(右)
射擊彈孔殘留物
刑偵專家通過(guò)使用M4 TORNADO對(duì)射擊彈孔殘留物進(jìn)行面掃描測(cè)試,比對(duì)彈孔周?chē)貧埩羟闆r,,可對(duì)射擊距離,、射擊角度等信息進(jìn)行判別。
射擊彈孔光學(xué)照片(左),、不同射擊距離彈孔殘留Cu,、Pb面掃描結(jié)果對(duì)比(中)、不同射擊距離與殘留元素特征譜線熒光強(qiáng)度相互關(guān)系(右)
文書(shū)紙張油墨鑒別
在鋼筆或打印機(jī)中使用的現(xiàn)代墨水通常因生產(chǎn)廠家,、工藝等原因各不相同,。而這些差異很難通過(guò)肉眼識(shí)別出來(lái),尤其是在文字褪色之后,。通過(guò)使用M4 TORNADO對(duì)文書(shū)紙張,、墨水進(jìn)行掃描,可快速獲得文書(shū)所用紙張,、墨水成分,。
圓珠筆(B)、簽字筆(R),、中性筆(G)光學(xué)照片(左),,M4 面掃描結(jié)果對(duì)比(中),不同類(lèi)型筆的分類(lèi)(右)
現(xiàn)場(chǎng)殘留物來(lái)源判別
通過(guò)對(duì)靴子或輪胎上的殘留物進(jìn)行成分分析,,確定土壤,、沙子或其他環(huán)境碎屑的來(lái)源,從而幫助刑偵專家確定現(xiàn)場(chǎng),。
輪胎,、鞋靴底光學(xué)照片(左),M4 面掃描結(jié)果(中),,光譜對(duì)比(右)