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鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

1,、光學顯微鏡法,。適用標準為：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射線法）,。適用標準為：GB/T16921-2005

3,、庫侖法，此法一般為仲裁方法,。適用標準為：GB/T4955-2005

X光無損測厚儀原理

產(chǎn)生X射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中,，電子突然減速,，其損失的動能（其中的1%）會以光子形式放出，形成X光光譜的連續(xù)部分,，稱之為制動輻射,。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大,，則有可能將金屬原子的內(nèi)層電子撞出,。于是內(nèi)層形成空穴，外層電子躍遷回內(nèi)層填補空穴,，同時放出波長在0.1納米左右的光子,。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的,，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線,，此稱為特性輻射,。

X光無損測厚儀測量標準

1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000

金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法

2.美國標準A754/A754M-08

Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence