X熒光鍍銀測厚儀技術指標

型號：XU-100
產品名稱：X熒光鍍銀測厚儀
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層,。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應校正模型,。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：35kg

X熒光鍍銀測厚儀標準配置

開放式樣品腔,。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動,，實現三維移動,。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應用領域

X熒光鍍銀測厚儀應用于鍍銀,、鍍鎳,、鍍金、鍍鋅等,，廣泛應用于電子電器,、五金工具、PCB板,、半導體封裝,、電子連接器等。