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目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XTD-200X熒光電鍍厚度測試儀

X熒光電鍍厚度測試儀
  • X熒光電鍍厚度測試儀
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參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào) XTD-200
  • 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
  • 所在地 深圳市
屬性

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更新時(shí)間:2024-04-28 17:12:01瀏覽次數(shù):1577評(píng)價(jià)

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 10萬-20萬
應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷
X熒光電鍍厚度測試儀
1.*EFP算法:多層多元素、各種元素及有機(jī)物,甚至有同種元素在不同層也可測量,。
2.上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快,、準(zhǔn),、穩(wěn)高效率測量,。
3.自動(dòng)對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦,。
4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測,。
5.小面積測量:小測量面積0.002mm2

X熒光電鍍厚度測試儀

是專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測試,,由軟件控制儀器的測試點(diǎn),,以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,,配上專門為其開發(fā)的軟件,,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

應(yīng)用領(lǐng)域:

黃金,,鉑,,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),;銀行,,首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè),。


技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U),。
一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素。
分析檢出限可達(dá)1ppm,。
分析含量一般為1ppm到99.9%,。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型,。
多變量非線性回收程序,。
多次測量重復(fù)性可達(dá)0.1%。
長期工作穩(wěn)定性為0.1%,。
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源



產(chǎn)品詳情

XTD-200測厚儀,專業(yè)表面處理檢測解決方案:釹鐵硼磁鐵Ni/Cu/Ni/FeAlB電鍍層分析

兩層重復(fù)鎳鍍層厚度分析儀

XTD-200測厚儀,,于檢測各種異形件,,特別是五金類模具,、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析,。

儀器優(yōu)點(diǎn):

1. 分析精度*

2. 分析范圍廣泛

3. 微區(qū)定位

4. 操作簡單快捷

5. 結(jié)果可靠

6. 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)


XYZ高精密移動(dòng)裝置:快速定位,,手/自動(dòng)(可選),自動(dòng)版可實(shí)現(xiàn)編程定位多點(diǎn)自動(dòng)測試,。


軟,、硬件雙向操作:人性化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)軟件,,硬件雙向快捷操作,。

變焦 對焦:配備高敏感鏡頭,實(shí)現(xiàn)無感對焦,,可測各種異形件,、超大工件。



性能優(yōu)勢:

1.*EFP算法:多層多元素,、各種元素及有機(jī)物,,甚至有同種元素在不同層也可測量,。

2.上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)可對超大工件進(jìn)行快,、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測量,。

3.自動(dòng)對焦:高低大小樣品可快速清晰對焦,。

4.變焦裝置算法:可對大90mm深度的凹槽高低落差件直接檢測。

5.小面積測量:小測量面積0.002mm2

6.大行程移動(dòng)平臺(tái):手動(dòng)XY滑臺(tái)100*150mm,,自動(dòng)XY平臺(tái)200*200mm.


X熒光電鍍厚度測試儀結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):

一六儀器研制的測厚儀*的光路交換裝置,,讓X射線和可見光攝像同一垂直線,達(dá)到視覺與測試定位一體,,且X光擴(kuò)散度極?。慌cEFP軟件配合達(dá)到對焦,、變焦雙焦功能,,實(shí)現(xiàn)高低、凹凸不平各種形狀樣品的測試,;高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍,,可以減少弧度傾斜放樣帶來的誤差,同時(shí)特征X射線可以穿透測試更厚的表層,。


EFP算法:


采用Fp算法的后一代全新核心算法--理論Alpha系數(shù)法,,基于熒光X射線激發(fā)的基本原理,從理論上計(jì)算出樣品中每個(gè)元素的一次和二次特征X射線的熒光強(qiáng)度,,在基于此計(jì)算Lachance綜合校正系數(shù),,然后使用這些理論a系數(shù)去校正元素間的吸收增強(qiáng)效應(yīng),。

只需少數(shù)標(biāo)樣來校正儀器因子,可測試重復(fù)鍍層,、非金屬,、輕金屬以及有機(jī)物層。




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