目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XU-100X熒光鍍層膜厚測厚儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
影響膜厚儀準確度的因素有以下幾種：
1.曲率：不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。
2.讀數(shù)次數(shù)：通常由于x熒光鍍層膜厚測厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量,，表面粗造時更應(yīng)如此。
3.基體金屬特性：對于磁性方法,，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度,，應(yīng)當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙4.度相似；對于渦流方法,，標準片基體金屬的電性質(zhì),，應(yīng)當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。
5.表面清潔度：測量前,，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。
6.基體金屬厚度：檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，無損檢測資源網(wǎng)如果沒有,，可采用其他方法進行校準,。
7.邊緣效應(yīng)：不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量,。
X熒光鍍層膜厚測厚儀性能特點
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
X熒光鍍層膜厚測厚儀技術(shù)指標
型號：xu-100
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）,。
同時可以分析30種以上元素,，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% ,。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型,。
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃,。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源,。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：30kg
標準配置
開放式樣品腔,。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動,。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器,。
信號檢測電子電路。
高低壓電源,。
X光管,。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
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