目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XTUXRF鍍層測厚儀
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理,。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學透視照片,。另外也用于機場的貨物檢查,。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員,，依靠*科學研究,，總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實踐經(jīng)驗，結(jié)合中國的特色,，開發(fā)生產(chǎn)出的電鍍膜厚光譜儀具有快速,、準確、簡便,、實用等優(yōu)點,，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量,。
X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法,，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時,，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線,，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后,，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號,；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度,。
它能檢測出常見金屬鍍層厚度,，無需樣品預(yù)處理；分析時間短,，僅為數(shù)十秒,，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬,，可從0.005μm到60μm,。
鍍層測厚儀配置
開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺,，探測器和X光管上下可動,，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置,。
鉛玻璃屏蔽罩,。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路,。
高低壓電源,。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
鍍層測厚儀應(yīng)用
黃金,，鉑,，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè),；銀行,，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè),。
清晰明了,簡單易學,，備受客戶青睞。
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