XAU-4C光譜分析儀

性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm2（加長測量時間可小至0.01mm2）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品,，變焦距離可達0-30mm3.EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層,，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量,。   4.*解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾,，降低檢出限。   5.高性能探測器：S

• 測量面積：最小0.03mm2

• 鍍層分析：23層鍍層24種元素

• 儀器特點：RoHS鹵素有害元素檢測

• 儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析

儀器簡介：

XAU-4C光譜分析儀是一款設(shè)計結(jié)構(gòu)緊湊,，模塊精密化程度*的光譜分析儀,，采用了下照式C型腔體設(shè)計，是一款一機多用型光譜儀,。

應(yīng)用核心EFP算法和微光聚集技術(shù),，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析,。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控,、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

• 微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm2（加長測量時間可小至0.01mm2）

• 變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品,，變焦距離可達0-30mm

• 自主研發(fā)的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂鍍層,，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精確測量

• *解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾,，降低檢出限

• 高性能探測器：SDD硅漂移窗口面積25/50mm2探測器

• 光路系統(tǒng)：微焦加強型射線管搭配聚集

• 多準直器自動切換

應(yīng)用領(lǐng)域：

廣泛應(yīng)用于半導體行業(yè),、新能源行業(yè)、5G通訊,、五金建材,、航空航天、環(huán)保行業(yè),、汽車行業(yè),、貴金屬檢測、精密電子,、電鍍行業(yè)等多種領(lǐng)域,。

多元迭代EFP核心算法（ZL號：2017SR567637）

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計算樣品中每個元素的一次熒光,、二次熒光、靶材熒光,、吸收增強效應(yīng),、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*光路轉(zhuǎn)換技術(shù),、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),，只需要少量的標樣來校正儀器因子,，可測試重復鍍層、非金屬,、輕金屬,、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe,、Ag/Cu等

多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe,、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe,，通過EFP算法,，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例,。

重復鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素,，也可精準測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,，第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量,。

有害元素檢測：RoHS檢測，可滿足鉛（Pb）,、汞（Hg）,、鎘（Cd）、六價鉻（Cr VI）等有害元素的成分檢測及含量分析

技術(shù)參數(shù)：

1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）

2. 成分檢出限：1ppm

3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）

4. 涂鍍層檢出限：0.005μm

5. 最小測量直徑□0.1*0.3mm（最小測量面積0.03mm2）

    標配：最小測量直徑0.3mm（最小測量面積0.07mm2）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺最大承重：5KG

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用,，無損檢測（涂鍍層檢測-環(huán)保RoHS-成分分析）

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素,，重復鍍層，同種元素不同層亦可檢測