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儀器簡介：

XTU-A X熒光光譜儀是一款設計結構緊湊,，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計,，不但可以測量各種微小樣品,，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高,、適用性強的機型,。

該系列儀器使用于平面、微小樣品或者微凹槽曲面深度30mm以內的樣品涂鍍層檢測,。

被廣泛用于各類產品的質量管控,、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。

產品優(yōu)勢：

• 快速精準移動定位：高精密微型移動滑軌,，10-30mm（X-Y）/圈,，精度0.005mm

• 微焦X射線裝置：檢測面積可小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件

• 高效率正比接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品,，幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性

• 變焦裝置及算法：可對各種異形凹槽進行檢測,，凹槽深度測量范圍可達0-30mm

• 對焦方便：下照式設計可以快速定位對焦樣品

XTU-A X熒光光譜儀應用領域：

廣泛應用于電鍍鍍層厚度分析、接插件等電子元器件檢測,、緊固件行業(yè),、五金行業(yè)（家用設備及配件等，如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)）,、汽車零部件,、配飾厚度分析、新能源行業(yè)（光伏焊帶絲等）,、汝鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,、電鍍液的金屬陽離子檢測等多種領域。

多元迭代EFP核心算法（ZL號：2017SR567637）

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎上,，計算樣品中每個元素的一次熒光,、二次熒光、靶材熒光,、吸收增強效應,、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法,，結合*光路轉換技術、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),，只需要少量的標樣來校正儀器因子,，可測試重復鍍層、非金屬,、輕金屬,、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe,、Ag/Cu等

多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe,、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應用：如NiP/Fe,，通過EFP算法,，在計算鎳磷鍍層厚度的同時，還可精準分析出鎳磷含量比例,。

重復鍍層應用：不同層有相同元素,，也可精準測量和分析。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,，第一層Ni和第三層Ni的厚度均可測量,。

技術參數：

1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）

2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）

3. 厚度檢出限：0.005μm

4. 成分檢出限：1ppm

5. 最小測量直徑0.2mm（最小測量面積0.03mm2）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺最大承重：5KG

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用，無損檢測

2.最小測量面積0.002mm2

3.可檢測凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素,，重復鍍層,，同種元素不同層亦可檢測